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Comments on Channel Length Dependence of Random Telegraph Signal in Sub-Micron MOSFET's
Online Contents | 1995|Beteiligte: Hook, T.B. -
Interface state generation in pFETs with ultra-thin oxide and oxynitride on (100) and (110) Si substrates
Online Contents | 2005|Beteiligte: Hook, T.B. -
LETTERS - Process Stability of Deuterium-Annealed MOSFET's
Online Contents | 1999|Beteiligte: Hook, T.B. -
PAPERS - Silicon Devices - The Combined Effects of Deuterium Anneals and Deuterated Barrier-Nitride Processing on Hot-Electron Degradation in MOSFET's
Online Contents | 1999|Beteiligte: Hook, T.B. -
PAPERS - Silicon Devices - The Combined Effects of Deuterium Anneals and Deuterated Barrier-Nitride Processing on Hot-Electron Degradation in MOSFET's
Online Contents | 1999|Beteiligte: Hook, T.B.
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