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Roentgenographische Strukturuntersuchungen an kristallinen Hochtemperaturphasen
Tema Archiv | 1984| -
Influence of the Charging Effect on HBM ESD Device Testing
British Library Conference Proceedings | 2000| -
CDM tests on interface test chips for the verification of ESD protection concepts
British Library Online Contents | 2009| -
CDM tests on interface test chips for the verification of ESD protection concepts
British Library Conference Proceedings | 2009| -
Influence of the device package on the results of charged device model (CDM) tests - consequences for tester characterization and test procedure
British Library Online Contents | 1999| -
Take-off- und Recovery-Strommessungen an bad- und zwangsgekuehlten NbTi-Supraleitern
Freier ZugriffBASE | 1999| -
Do ESD fails in systems correlate with IC ESD robustness?
British Library Conference Proceedings | 2009|
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