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2BO.5.6 Residual Stresses in Multicrystalline Silicon: Test of Different Measurement Techniques and Comparison with Simulation Results
British Library Conference Proceedings | 2012| -
2CV.1.43 Simulation of the Development of Dislocation Density in Multi-Crystalline Silicon during Crystallisation Processes
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2CV.3.5 Influence of Saw Damage Etching on the Mechanical Stability of Multicrystalline Wafers
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2CV.3.26 Orientation of Grains and Twins in EFG-Silicon Ribbons
British Library Conference Proceedings | 2008| -
3D coupled electromagnetic and thermal modelling of EFG silicon tube growth
British Library Conference Proceedings | 2007| -
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British Library Online Contents | 2007| -
3D coupled electromagnetic and thermal modelling of EFG silicon tube growth
Online Contents | 2007|Beteiligte: Behnken, H. -
Articles - Microstresses caused by uniaxial deformation and by mechanical surface treatments
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Bestimmung steiler Spannungsprofile - Ergebnisse einer Gemeinschaftsuntersuchung des AWT-FA 13,,Eigenspannungen"
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Biotransformation of Dimethenamid-P by the basidiomycete Irpex consors
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