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- angewandte optik
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Erbium silicide nanostructures self-assembled on Si(001) by cyclic growth [7995-167]
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Advancements of diffraction-based overlay metrology for double patterning [7971-70]
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Metrology characterization of spacer double patterning by scatterometry [7971-35]
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A comparison of advanced overlay technologies [7638-60]
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Microstructure evolution and FT-IR spectra of silicon induced by pulsed laser irradiation
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Advanced diffraction-based overlay for double patterning [7638-82]
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Practical testing device for fluorescence lifetime on μs with LCD display [7656-11]
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Parameters of hot embossing in microfluidic chips [7544-239]
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Measurement of transient wavelength and line-width of DFB diode laser by delayed self-heterodyne interferometer [7544-303]
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Compensation of laser beam directional stability offset error by using translational spectroscope [7544-260]
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Strain sensing in fatigue test of metallic material at liquid nitrogen temperature using fiber Bragg gratings [7656-112]
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Parameter identification of double parallel joints coordinate measuring machine [7544-116]
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Fabrication 3D buried channel optical waveguide modulators on field-driven ion exchange process [7656-72]
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Thermal decay characteristic of fiber Bragg gratings written into Sn doped fibers loaded hydrogen and a novel encapsulation method [7656-113]
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Straight interference fringes thinning algorithm [7656-206]
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Study of optimum pumping intensity at Cs vapor magnetometer [7656-31]
British Library Conference Proceedings | 2010|
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