Testing of Intelligent Electronic Device (IED) in a digital substation (Englisch)
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In:
The Journal of Engineering
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2018
, 15
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900-903
;
2018
Mehr Angaben zu diesem Treffer
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Titel:Testing of Intelligent Electronic Device (IED) in a digital substation
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Beteiligte:Stensrud, Linda (Autor:in) / Ohrn, Bendik (Autor:in) / Loken, Rannveig.S.J. (Autor:in) / Hurzuk, Nargis (Autor:in) / Apostolov, Alex (Autor:in)
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Erschienen in:The Journal of Engineering ; 2018, 15 ; 900-903
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Ausgabe:15
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Erscheinungsdatum:22.08.2018
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Format / Umfang:4 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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