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(Invited) In-Depth DC and Low Frequency Noise Characterization of Nanosheet FETs at Room and Cryogenic Temperatures
British Library Conference Proceedings | 2023| -
(Invited) Defect Engineering for Monolithic Integration of III-V Semiconductors on Silicon Substrates
British Library Conference Proceedings | 2021| -
(Invited) Impact of Processing Factors on the Low-Frequency Noise of Gate-All-Around Silicon Vertical Nanowire FETs
British Library Conference Proceedings | 2021| -
A defect characterization technique for the sidewall surface of Nano-ridge and Nanowire based Logic and RF technologies
British Library Conference Proceedings | 2021|
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