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Progress in the analysis of defect structures with endor spectroscopy
NationallizenzTaylor & Francis Verlag | 1983| -
Mikrowellenmapping Bauteile-relevanter Leitungsparameter
British Library Conference Proceedings | 2000| -
Fast, high resolution, inline contactless electrical semiconductor characterization for photovoltaic applications by microwave detected photoconductivity
British Library Online Contents | 2013| -
New procedure for presenting data by integrated or differentiated smooth graphs
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 1998| -
Acoustoelectric Current Saturation on Trigonal Se and Se X Te1-X Single Crystals
Springer Verlag | 1979| -
Defect topography on GaAs wafers by microwave-detected photo-induced current transient spectroscopy
British Library Conference Proceedings | 2003| -
New procedure for presenting data by integrated or differentiated smooth graphs
British Library Online Contents | 1998| -
The Micro Structure of the EL2 Defect in Gaas - A Different Look to Former Spin Resonance Data
British Library Online Contents | 1997| -
The micro structure of the EL2 defect in GaAs - a different look to former spin-resonance data
British Library Conference Proceedings | 1997| -
Nondestructive Electrical Defect Characterization and Topography of Silicon Wafers and Epitaxial Layers
British Library Conference Proceedings | 2005| -
Beruhrungslose defektspezifische Topographie von Silicium-Wafern
British Library Conference Proceedings | 2004| -
Sensitivity enhancement in ESR/ENDOR spectrometers by use of microwave amplifiers
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 1978| -
Contact-less electrical defect characterisation of silicon by MD-PICTS
British Library Online Contents | 2006| -
Defect specific topography of GaAs wafers by microwave-detected photo induced current transient spectroscopy
British Library Online Contents | 2002| -
Interpretation of lifetime and defect spectroscopy measurements by generalized rate equations
Online Contents | 2008| -
Interpretation of lifetime and defect spectroscopy measurements by generalized rate equations
Springer Verlag | 2008| -
Interpretation of lifetime and defect spectroscopy measurements by generalized rate equations
Online Contents | 2008|
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