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Interacting nanoscale magnetic superatom cluster arrays in molybdenum oxide bronzes
Royal Society of Chemistry | 2017| -
Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronics
TIBKAT | 2017|Beteiligte: Seiler, David G. -
International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics 2017 : Monterey, California, USA, March 21-23, 2017
TIBKAT | 2017|Beteiligte: Seiler, David G. -
Preface: Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011
American Institute of Physics | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Positioning More than Moore characterization needs and methods within the 2011 ITRS
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Fourier scatterometry for characterization of sub-wavelength periodic two photon polymerization structures
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Metrology and failure analysis for 3D IC integration
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Advanced monitoring of trace metals applied to contamination reduction of silicon device processing
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Investigation of boron redistribution during silicidation in TiSi~2 using Atom Probe Tomography
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Field mapping of semiconductors in a state-of-the-art electron microscope
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Stress-induced effects caused by 3D IC TSV packaging in advanced semiconductor device performance
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Observation of work functions, metallicity, band bending, interfacial dipoles by EUPS for characterizing high-k/metal interfaces
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
A traceable scatterometry measurement of a silicon line grating
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
FIB/SEM structural analysis of through-silicon-vias
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Nanomechanical characterization and metrology for low-k and ULK materials
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
The impact of organic contamination on the oxide-silicon interface
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Current voltage characteristics through grains and grain boundaries of high-k dielectric thin films measured by tunneling atomic force microscopy
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Annealed Si/SiGeC superlattices studied by dark-field electron holography, ToF-SIMS and infrared spectroscopy
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G. -
Nanoelectronics and More-than-Moore at IMEC
British Library Conference Proceedings | 2011|Beteiligte: Seiler, David G.
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