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Accuracy of color determination from spectroscopic ellipsometry measurements
British Library Online Contents | 2011| -
A multi-sample, multi-wavelength, multi-angle investigation of the interface layer between silicon and thermally grown silicon dioxide
British Library Online Contents | 1998| -
A multi-sample, multi-wavelength, multi-angle investigation of the interface layer between silicon and thermally grown silicon dioxide
British Library Conference Proceedings | 1998| -
A multi-sample, multi-wavelength, multi-angle investigation of the interface layer between silicon and thermally grown silicon dioxide
Online Contents | 1998|Beteiligte: Johs, B. -
A multi-sample, multi-wavelength, multi-angle investigation of the interface layer between silicon and thermally grown silicon dioxide
Online Contents | 1998|Beteiligte: Johs, B. -
A Neutron Reflectivity Investigation of Surface and Interface Segregation of Polymer Functional End Groups
NationallizenzAmerican Chemical Society | 1994| -
A Neutron Reflectivity Investigation of Surface and Interface Segregation of Polymer Functional End Groups
British Library Online Contents | 1994| -
Application of generalized ellipsometry to complex optical systems [3094-32]
British Library Conference Proceedings | 1997| -
Application of Spectroscopic Ellipsometry for Real-Time Control of CdTe and HgCdTe Growth in an OMCVD System
British Library Conference Proceedings | 1995| -
Application of Spectroscopic Ellipsometry for Real-Time Control of CdTe and HgCdTe Growth in an OMCVD System
British Library Online Contents | 1995| -
Application of spectroscopic ellipsometry for real-time control of CdTe and HgCdTe growth in an OMCVD system
NationallizenzSpringer Verlag | 1995| -
Automated Compositional Control of Hg~1~-~x ,Cd~xTe During MBE, Using in situ Spectroscopic Ellipsometry
British Library Online Contents | 1998| -
Characterization of biaxially-stretched plastic films by generalized ellipsometry
British Library Conference Proceedings | 1998| -
Characterization of biaxially-stretched plastic films by generalized ellipsometry
British Library Online Contents | 1998| -
Characterization of biaxially-stretched plastic films by generalized ellipsometry
Online Contents | 1998|Beteiligte: Johs, B. -
Characterization of biaxially-stretched plastic films by generalized ellipsometry
Online Contents | 1998|Beteiligte: Johs, B. -
Closed-loop control of resonant tunneling diode barrier thickness using in situ spectroscopic ellipsometry
American Institute of Physics | 2000|
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