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Interfacial segregation of dopants in fully silicided metal-oxide-semiconductor gates
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2005| -
Reduction of hafnium oxide and hafnium silicate by rhenium and platinum
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2006| -
Interfacial segregation of dopants in fully silicided metal-oxide-semiconductor gates (3 pages)
British Library Online Contents | 2005| -
Nuclear reaction analysis of 1H and 2H in hafnium silicate films on Si
British Library Online Contents | 2008| -
Use of the gamma function for straggling in simulation of RBS spectra
British Library Online Contents | 2007| -
Use of the gamma function for straggling in simulation of RBS spectra
British Library Conference Proceedings | 2007| -
Reduction of hafnium oxide and hafnium silicate by rhenium and platinum (3 pages)
British Library Online Contents | 2006| -
Post deposition annealing of Hf aluminate films on Si investigated by ion backscattering and nuclear reaction analyses
British Library Online Contents | 2008| -
Aluminum mobility and interfacial segregation in fully silicided gate contacts
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2005| -
Nuclear reaction analysis of 1H and 2H in hafnium silicate films on Si
British Library Conference Proceedings | 2008| -
Atomic transport and integrity of Al2O3(2.0 nm)/HfO2(2.5 nm) gate stacks on Si
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2007| -
Oxygen transport and reaction mechanisms in rhenium gate contacts on hafnium oxide films on Si
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2006| -
Structural, optical and chemical characterizations of sol-gel grown tin oxide aerogels
British Library Online Contents | 2013| -
High Resolution Profiling Using Ion Scattering and Resonant Nuclear Reactions
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 2005| -
Aluminum mobility and interfacial segregation in fully silicided gate contacts (3 pages)
British Library Online Contents | 2005| -
Post deposition annealing of Hf aluminate films on Si investigated by ion backscattering and nuclear reaction analyses
British Library Conference Proceedings | 2008| -
Atomic transport and integrity of Al~2O~3(2.0 nm)/HfO~2(2.5 nm) gate stacks on Si (3 pages)
British Library Online Contents | 2007| -
An analytical energy-loss line shape for high depth resolution in ion-beam analysis
British Library Online Contents | 2007| -
An analytical energy-loss line shape for high depth resolution in ion-beam analysis
British Library Conference Proceedings | 2007|
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