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Mitochondria-targeted ratiometric fluorescent probe based on FRET for bisulfite
Online Contents | 2017| -
Electron reflectometer and process for performing shape metrology
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2019| -
Apparatus for amplifying intensity during transmission small angle X-ray scattering measurements
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2019| -
ELECTRON REFLECTOMETER AND PROCESS FOR PERFORMING SHAPE METROLOGY
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2019| -
Electron reflectometry for measuring nanostructures on opaque substrates
American Institute of Physics | 2019| -
Off‐specular reflection from flat interfaces with density or compositional fluctuations
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 1993| -
Apparatus for amplifying intensity during transmission small angle—X-ray scattering measurements
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2016| -
Apparatus for amplifying intensity during transmission small angle X-ray scattering measurements
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2015| -
Small angle neutron scattering measurements of nanoscale lithographic features
Online Contents | 2000| -
Off-specular reflection from flat interfaces with density or compositional fluctuations
Online Contents | 1993| -
Film Thickness Dependent Thermal Expansion in Ultrathin Poly(methyl methacrylate) Films on Silicon
Online Contents | 1995|
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