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Analysis of Self-Heating Effects in Ultrathin-Body SOI MOSFETs by Device Simulation (Invited Paper)
Online Contents | 2008| -
LETTERS - Silicon Devices - Analysis of Gate Shot Noise in MOSFETs With Ultrathin Gate Oxides
Online Contents | 2003| -
The effects of scaling on the performance of small-signal MOS amplifiers
British Library Online Contents | 2002| -
Analysis of Gate Shot Noise in MOSFETs With Ultrathin Gate Oxides
British Library Online Contents | 2003| -
Oxide-Field Dependence of Electron Injection from Silicon into Silicon Dioxide
Online Contents | 1993| -
Scaling the MOS Transistor Below 0.1 mm: Methodology, Device Structures, and Technology Requirements
Online Contents | 1994| -
Scaling the MOS Transistor Below 0.1 mm: Methodology, Device Structures, and Technology Requirements
Online Contents | 1994|
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