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4H-SiC Schottky diode radiation hardness assessment by IBIC microscopy
Freier ZugriffArXiv | 2022| -
Probability of divacancy trap production in silicon diodes exposed to focused ion beam irradiation
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2011| -
Laser-induced etching of few-layer graphene synthesized by Rapid-Chemical Vapour Deposition on Cu thin films
Freier ZugriffArXiv | 2012| -
Diode Parameters Design Simulation and Experimental Validation against Silver Migration Phenomena in High Voltage Switching Application
British Library Conference Proceedings | 2017| -
Modeling of ion beam induced charge sharing experiments for the design of high resolution position sensitive detectors
Freier ZugriffArXiv | 2014| -
Structural and spectroscopic properties of high temperature prepared ZrO2–TiO2 mixed oxides
Freier ZugriffBASE | 2013| -
Multiferroic and magnetoelectric properties of BiFeO3-CoFe2O4-poly(vinylidene-flouride) composite films
Freier ZugriffBASE | 2017|
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