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Influence of structural disorder on soft x-ray optical behavior of NbC thin films
Online Contents | 2015| -
Chemical selective microstructural analysis of thin film using resonant x-ray reflectivity
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2013| -
Indus-2 X-ray lithography beamline for X-ray optics and material science applications
American Institute of Physics | 2014| -
Approach to combine structural with chemical composition profiles using resonant X-ray scattering
British Library Online Contents | 2013| -
Probing spectroscopic like information using resonant scattering
American Institute of Physics | 2012| -
Fabrication of compound refractive lens using soft and deep X-ray lithography beamline on Indus-2
American Institute of Physics | 2012| -
Microfocused X‐rays Beams Using Compound Refractive Lenses: Possibilities for Indus‐2
American Institute of Physics | 2011| -
Effect of discharge current and deposition temperature on roughness and density of NbC films fabricated by ion beam sputtering technique
American Institute of Physics | 2014| -
Research Activities Using Indus‐1 Synchrotron Radiation Source
American Institute of Physics | 2010| -
Effect of ion beam energy on density, roughness & uniformity of Co film deposited using ion beam sputtering system
American Institute of Physics | 2012| -
Magnetron sputtering system for fabrication of X-ray multilayer optics
American Institute of Physics | 2012| -
Nucleation, growth, percolation, and amorphous to crystalline transition of ultrathin molybdenum films
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2006| -
The effect of misalignment errors in optical elements of VUV polarimeter
British Library Online Contents | 2006| -
Interface roughness correlation due to changing layer period in Pt/C multilayers
NationallizenzAmerican Physical Society | 2002| -
Structure and composition of zirconium carbide thin-film grown by ion beam sputtering for optical applications
American Institute of Physics | 2014|
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