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X-ray Diffraction Topography — Investigation of Single Crystals Grown by the Czochralski Method
Online Contents | 2013| -
X-ray Diffraction Topography - Investigation of Single Crystals Grown by the Czochralski Method
British Library Online Contents | 2013| -
Conventional and synchrotron radiation back reflection topography of GdCa4O(BO3)3 crystals
Online Contents | 2004| -
PAPERS - X-RAY IMAGING - Topography and lattice parameter of Si:Ge bulk crystals
Online Contents | 2001| -
Dislocations Generated in Si Annealed under Normal or High Pressure
British Library Online Contents | 1999| -
Contrast in transmission X-ray diffraction topographs of growth defects in the core of SrLaGaO4 single crystals
British Library Online Contents | 2013| -
A study of defects generated in Czochralski-grown Si during two-step annealing
Online Contents | 1995| -
High-pressure-induced defect formation in silicon single crystals I. Characterization of defects and conditions of their creation
NationallizenzTaylor & Francis Verlag | 1985| -
Rentgenowskie badania dyfrakcyjne domieszkowanych krysztalow GaN
British Library Conference Proceedings | 2000| -
Rentgenowskie badania dyfrakcyjne domieszkowanych krysztalow GaN
British Library Online Contents | 2000| -
X-ray topography of GdCa4O(BO3)3 single crystals grown by the Czochralski method
Tema Archiv | 2006|
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