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Measurement of Dose Rate Dependence of Radiation Induced Damage to the Current Gain in Bipolar Transistors
British Library Conference Proceedings | 1999| -
Test results on silicon micro-strip detectors for ATLAS
British Library Conference Proceedings | 1997| -
Investigation of HV/HR-CMOS technology for the ATLAS Phase-II Strip Tracker Upgrade
British Library Online Contents | 2016| -
Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (ELDRS) tests on advanced SiGe bipolar transistors for very high total dose applications
British Library Online Contents | 2013| -
Evaluation of silicon-germanium (SiGe) bipolar technologies for use in an upgraded atlas detector
British Library Online Contents | 2009| -
Development of front-end ASICs for imaging neuronal activity in live tissue
British Library Online Contents | 2005| -
Development of front-end ASICs for imaging neuronal activity in live tissue
British Library Conference Proceedings | 2005| -
Ionization Damage on ATLAS-SCT Front-End Electronics Considering Low-Dose-Rate Effects
British Library Conference Proceedings | 2002| -
Ionization Damage on ATLAS-SCT Front-End Electronics Considering Low-Dose-Rate Effects
British Library Online Contents | 2002| -
Large-scale multielectrode recording and stimulation of neural activity
British Library Conference Proceedings | 2007| -
Large-scale multielectrode recording and stimulation of neural activity
British Library Online Contents | 2007| -
N6-4 Ionization Damage on ATLAS-SCT Front-End Electronics Considering Low Dose Rate Effects
British Library Conference Proceedings | 2001| -
ASIC Wafer Test System for the ATLAS Semiconductor Tracker Front-End Chip
British Library Online Contents | 2002| -
ASIC Wafer Test System for the ATLAS Semiconductor Tracker Front-End Chip
British Library Conference Proceedings | 2002|
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