-
Wear detection of candidate MEMS/NEMS lubricant films using atomic force microscopy-based surface potential measurements
Elsevier | 2007|Schlagwörter: Atomic force microscopy -
Ultrathin Wear‐Resistant Ionic Liquid Films for Novel MEMS/NEMS Applications
Wiley | 2008|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Thermally-treated Pt-coated silicon AFM tips for wear resistance in ferroelectric data storage
Elsevier | 2008|Schlagwörter: Atomic force microscopy -
Surface, tribological, and mechanical characterization of synthetic skins for tribological applications in cosmetic science
Wiley | 2011|Schlagwörter: atomic force microscopy (AFM) -
Self-Assembled Monolayers on Aluminum and Copper Oxide Surfaces: Surface and Interface Characteristics, Nanotribological Properties, and Chemical Stability
NationallizenzSpringer Verlag | 2008|Schlagwörter: Adhesive Force -
Scanning spreading resistance characterization of aged Li-ion batteries using atomic force microscopy
Elsevier | 2009|Schlagwörter: Atomic force microscope (AFM) -
Normal and Lateral Force Calibration Techniques for AFM Cantilevers
Taylor & Francis Verlag | 2010|Schlagwörter: lateral force -
Nanotribological Characterization of Human Hair and Skin Using Atomic Force Microscopy (AFM)
NationallizenzSpringer Verlag | 2006|Schlagwörter: Atomic Force Microscopy, Friction Force, Adhesive Force -
In situ tensile deformation characterization of human hair with atomic force microscopy
Elsevier | 2007|Schlagwörter: Atomic force microscopy -
High Sliding Velocity Nanotribological Investigations of Materials for Nanotechnology Applications
NationallizenzSpringer Verlag | 2008|Schlagwörter: Atomic Force Microscope, Friction Force -
Gecko Feet: Natural Attachment Systems for Smart Adhesion-Mechanism, Modeling, and Development of Bio-Inspired Materials
NationallizenzSpringer Verlag | 2008|Schlagwörter: Adhesion Force -
Electrical Measurement Techniques in Atomic Force Microscopy
Taylor & Francis Verlag | 2010|Schlagwörter: scanning Kelvin force microscopy, piezoresistance force microscopy, conductive atomic force microscopy -
Effect of temperature on nanowear of platinum-coated probes sliding against coated silicon wafers for probe-based recording technology
Elsevier | 2007|Schlagwörter: Atomic force microscopy (AFM) -
Effect of ethnicity and treatments on in situ tensile response and morphological changes of human hair characterized by atomic force microscopy
Elsevier | 2008|Schlagwörter: Atomic force microscopy -
Development of a continuous microscratch technique in an atomic force microscope and its application to study scratch resistance of ultrathin hard amorphous carbon coatings
Tema Archiv | 2001|Schlagwörter: FFM (friction force microscope)
- ««
- «
- 1
- »»
Meine Suche schicken an (beta)
Schicken Sie ihre Suchanfrage (Suchterm ohne Filter) an andere Datenbanken, Portale und Kataloge, um ggf. weitere interessante Treffer zu finden:
Dimensions ist eine Datenbank für Abstracts und Zitate, die Informationen zu Forschungsförderungen mit daraus resultierenden Veröffentlichungen, Studien und Patenten verknüpft.
Im TIB AV-Portal können audiovisuelle Medien aus Wissenschaft und Lehre recherchiert und eigene wissenschaftliche Videos publiziert werden.
Im FID move kann nach fachspezifischer Literatur, Forschungsdaten und weitere Informationen aus der Mobilitäts- und Verkehrsforschung gesucht werden.
Der Open Research Knowledge Graph liefert strukturiert beschriebene Forschungsinhalte und macht diese vergleichbar.
Frei zugänglicher Ausschnitt der Verbunddatenbank K10plus des GBV und des SWB mit für die Fernleihe und Direktlieferdienste relevanten Materialien.