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Investigation of blistering kinetics in hydrogen implanted aluminium nitride
NationallizenzIOP Institute of Physics | 2008| -
Emission Spectrochemical Analysis of Vanadium and Iron in Titanium Tetrachloride
NationallizenzAmerican Chemical Society | 1955| -
Theoretical investigation of excited states of C3
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2004| -
Investigation of a hydrogen implantation-induced blistering phenomenon in Si0.70Ge0.30
NationallizenzIOP Institute of Physics | 2011| -
Narrow fluence window of hydrogen-implantation-induced exfoliation in ZnO
NationallizenzIOP Institute of Physics | 2007| -
Gas Chromatographic Analysis of Polymers after Oxidative Degradation.
NationallizenzAmerican Chemical Society | 1966| -
A gas chromatographic method for measuring rancidity in vegetable oils
NationallizenzSpringer Verlag | 1966| -
S1←S0 transition of 2,3-benzofluorene at low temperatures in the gas phase
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2008| -
Optical spectra obtained from amorphous films of rubrene: Evidence for predominance of twisted isomer
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2009| -
Low temperature InP layer transfer onto Si by helium implantation and direct wafer bonding
NationallizenzIOP Institute of Physics | 2006| -
Resonant Raman spectra of diindenoperylene thin films
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2011| -
Blistering study of H-implanted InGaAs for potential heterointegration applications
NationallizenzIOP Institute of Physics | 2011| -
Characterization of ultra smooth interfaces in Mo/Si-multilayers
NationallizenzSpringer Verlag | 1995| -
Characterization of ultra smooth interfaces in Mo/Si-multilayers
NationallizenzSpringer Verlag | 1995| -
Characterization of multilayer-interfaces by X-ray diffraction, TEM, SNMS and AES
NationallizenzSpringer Verlag | 1993| -
Investigation of the thermal stability of Ni/C multilayers by X-ray methods
NationallizenzSpringer Verlag | 1995| -
Investigation of the thermal stability of Ni/C multilayers by X-ray methods
NationallizenzSpringer Verlag | 1995|
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