Meinten Sie: person:(boer, P.) • person:(boyer, P.) • person:(bower, P.) • person:(borer, P.)
-
A new purged UV spectroscopic ellipsometer to characterize thin films and multilayers at 157 nm
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 2001| -
Fabrication of SiGe and SiGeC epitaxial layers by ion implantation and excimer laser annealing
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 1998| -
Feasibility and applicability of integrated metrology using spectroscopic ellipsometry in a cluster tool
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 2001| -
New infrared spectroscopic ellipsometer for low‐k dielectric characterization
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 2003|Beteiligte: Khosla, Rajinder P. -
High‐k dielectric characterization by VUV spectroscopic ellipsometry and X‐ray reflection
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 2003|Beteiligte: Khosla, Rajinder P.
- ««
- «
- 1
- »»
Meine Suche schicken an (beta)
Schicken Sie ihre Suchanfrage (Suchterm ohne Filter) an andere Datenbanken, Portale und Kataloge, um ggf. weitere interessante Treffer zu finden:
Dimensions ist eine Datenbank für Abstracts und Zitate, die Informationen zu Forschungsförderungen mit daraus resultierenden Veröffentlichungen, Studien und Patenten verknüpft.
Im TIB AV-Portal können audiovisuelle Medien aus Wissenschaft und Lehre recherchiert und eigene wissenschaftliche Videos publiziert werden.
Im FID move kann nach fachspezifischer Literatur, Forschungsdaten und weitere Informationen aus der Mobilitäts- und Verkehrsforschung gesucht werden.
Der Open Research Knowledge Graph liefert strukturiert beschriebene Forschungsinhalte und macht diese vergleichbar.
Frei zugänglicher Ausschnitt der Verbunddatenbank K10plus des GBV und des SWB mit für die Fernleihe und Direktlieferdienste relevanten Materialien.