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Development and implementation of a portable grating interferometer system as a standard tool for testing optics at the Advanced Photon Source beamline 1-BM
American Institute of Physics | 2016|Schlagwörter: In-Situ Metrology and Wave Front Measurements and Control -
At-wavelength metrology facility for soft X-ray reflection optics
American Institute of Physics | 2016|Schlagwörter: In-Situ Metrology and Wave Front Measurements and Control -
Speckle-based at-wavelength metrology of X-ray mirrors with super accuracy
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 2016|Schlagwörter: In-Situ Metrology and Wave Front Measurements and Control -
X-ray metrology and performance of a 45-cm long x-ray deformable mirror
American Institute of Physics | 2016|Schlagwörter: In-Situ Metrology and Wave Front Measurements and Control -
Optical pseudomotors for soft x-ray beamlines
American Institute of Physics | 2016|Schlagwörter: In-Situ Metrology and Wave Front Measurements and Control
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