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New wafer shape measurement technique for 300mm blank vertically held silicon wafer
British Library Conference Proceedings | 2023| -
Multi-color ellipsometric mapping tool from cheap parts
British Library Conference Proceedings | 2023| -
Mid-IR photothermal sensing of liquids for trace analysis
British Library Conference Proceedings | 2023| -
Fully automated inverse design solution for metalenses/metasurfaces
British Library Conference Proceedings | 2023| -
QEPAS spectroscopy with fully tunable IC-ECDL with high bandwidth for the MIR range
British Library Conference Proceedings | 2023| -
Nanostructures for in-situ surface-enhanced Kretschmann-Raether ellipsometry
British Library Conference Proceedings | 2023| -
Optimizing of laser source parameters for FMCW automotive LiDARs
British Library Conference Proceedings | 2023|
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