The feasibiliy of extended range monolithic x-ray interferometric calibrators (Unbekannt)
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In:
The Third Tokyo - Warwick Seminar on Nanotechnology
4
;
183
;
1993
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:The feasibiliy of extended range monolithic x-ray interferometric calibrators
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Beteiligte:Chetwynd, D. G. ( Autor:in ) / Harb, S. M. ( Autor:in ) / Krylova, N. O. ( Autor:in ) / Smith, S. T. ( Autor:in )
-
Erschienen in:NANOTECHNOLOGY ; 4, 4 ; 183
-
Verlag:
- Neue Suche nach: INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING
-
Erscheinungsdatum:01.01.1993
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Format / Umfang:183 pages
-
ISSN:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Unbekannt
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Klassifikation:
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Datenquelle:
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Inhaltsverzeichnis – Band 4, Ausgabe 4
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Characterization of engineering surfaces by grazing-incidence X-ray reflectivityD K Bowen / B K Tanner et al. | 1993
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The feasibiliy of extended range monolithic x-ray interferometric calibratorsChetwynd, D. G. / Harb, S. M. / Krylova, N. O. / Smith, S. T. et al. | 1993
- 183
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The feasibility of extended range monolithic X-ray interferometric calibratorsD G Chetwynd / S M Harb / N O Krylova / S T Smith et al. | 1993
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Nanofabrication and characterization using a scanning tunneling microscopeJ A Dagata / W Tseng / J Schneir / R M Silver et al. | 1993
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Progress towards traceable nanometric surface metrologyA Franks et al. | 1993
- 206
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Applied measurements of multipurpose precise interferometer (AMOS-1)S Hosoe / T Yoshida et al. | 1993
- 213
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FIM observation of point defect clusters in ion-implanted tungsten surfacesN Igata / S Sato et al. | 1993
- 218
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Development of a force sensor for atomic force microscopy using piezoelectric thin filmsT Itoh / T Suga et al. | 1993
- 225
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Plasma CVM (chemical vaporization machining): an ultra precision machining technique using high-pressure reactive plasmaY Mori / K Yamamura / K Yamauchi / K Yoshii / T Kataoka / K Endo / K Inagaki / H Kakiuchi et al. | 1993
- 230
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Fourier analysis of phase contrast microscopy of nanometric surfacesJ H Rakels et al. | 1993
- 236
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A study of silicon-wafer surface evaluation using atomic force microscopyY Samitsu et al. | 1993
- 242
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Capstans or lead screws? Comparing the performance of diamond turning machines under operating conditionsD H Youden et al. | 1993