X-ray and UV Valence Band Photoemission of Carbon Films (Englisch)
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In:
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS
;
26
, 8
;
565-568
;
1998
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:X-ray and UV Valence Band Photoemission of Carbon Films
-
Beteiligte:
-
Erschienen in:SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS ; 26, 8 ; 565-568
-
Verlag:
- Neue Suche nach: JOHN WILEY & SONS LTD
-
Erscheinungsdatum:01.01.1998
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Format / Umfang:4 pages
-
ISSN:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 660.293
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-
Klassifikation:
DDC: 660.293 -
Datenquelle:
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Inhaltsverzeichnis – Band 26, Ausgabe 8
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- 537
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Application of Low-energy Noble-gas Ion Scattering to the Quantitative Surface Compositional Analysis of Binary Alloys and Metal OxidesOetelaar, L.C.A.Van Den et al. | 1998
- 549
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Determination of the Concentration of Surface Hydroxyl Groups on Metal Oxide Films by a Quantitative XPS MethodMcCafferty, E. et al. | 1998
- 565
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X-ray and UV Valence Band Photoemission of Carbon FilmsCalliari, L. / Laidani, N. / Speranza, G. et al. | 1998
- 565
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X-ray and W Valence Band Photoemission of Carbon FilmsCalliari, L. et al. | 1998
- 569
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Static SIMS Spectra of Polystyrene Obtained by 'Living' Radical Polymerization. Part I: Molecular Weight Dependent FragmentationVanden Eynde, X. et al. | 1998
- 579
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Static SIMS Spectra of Polystyrene Obtained by 'Living' Radical Polymerization. Part II: Molecular Weight Quantification Based on End GroupsVanden Eynde, X. et al. | 1998
- 590
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Self-consistent Calibration of TixC1-x Auger SpectraWerner, W.S.M. et al. | 1998
- 597
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Identification of LEIS Contributions Observed in the Ion Kinetic Energy Distributions Collected on a Cameca IMS-3f SIMS InstrumentFranzreb, K. et al. | 1998
- 606
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Energy Calibration of X-ray Photoelectron Spectrometers. Part III: Location of the Zero Point on the Binding-energy scaleMiller, A.C. et al. | 1998
- 615
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Forthcoming Events| 1998
- 616
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Recently Accepted Papers| 1998