X-ray diffraction analysis of stannite, wurtz-stannite and pseudo-cubic quaternary compounds by Rietveld method (Englisch)
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In:
REVISTA MEXICANA DE FISICA
;
60
, 2
;
168-175
;
2014
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:X-ray diffraction analysis of stannite, wurtz-stannite and pseudo-cubic quaternary compounds by Rietveld method
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Beteiligte:Quintero, M. ( Autor:in ) / Marquina, J. ( Autor:in ) / Quintero, E. ( Autor:in ) / Moreno, E. ( Autor:in ) / Alvarez, S. ( Autor:in ) / Rincon, C. ( Autor:in ) / Grima, P. ( Autor:in ) / Bocaranda, P. ( Autor:in ) / Rivero, D. ( Autor:in ) / Henao, J.A. ( Autor:in )
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Erschienen in:REVISTA MEXICANA DE FISICA ; 60, 2 ; 168-175
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Verlag:
- Neue Suche nach: SOCIEDAD MEXICANA DE FISICA
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Erscheinungsdatum:01.01.2014
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Format / Umfang:8 pages
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ISSN:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Klassifikation:
DDC: 530 -
Datenquelle:
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Inhaltsverzeichnis – Band 60, Ausgabe 2
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X-ray diffraction analysis of stannite, wurtz-stannite and pseudo-cubic quaternary compounds by Rietveld methodQuintero, M. / Marquina, J. / Quintero, E. / Moreno, E. / Alvarez, S. / Rincon, C. / Grima, P. / Bocaranda, P. / Rivero, D. / Henao, J.A. et al. | 2014