Replicating and Re-Evaluating the Theory of Relative Defect-Proneness (Englisch)
- Neue Suche nach: Syer, M. D.
- Neue Suche nach: Nagappan, M.
- Neue Suche nach: Adams, B.
- Neue Suche nach: Hassan, A. E.
- Neue Suche nach: Syer, M. D.
- Neue Suche nach: Nagappan, M.
- Neue Suche nach: Adams, B.
- Neue Suche nach: Hassan, A. E.
In:
IEEE TRANSACTIONS ON SOFTWARE ENGINEERING
;
41
, 2
;
176-197
;
2015
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:Replicating and Re-Evaluating the Theory of Relative Defect-Proneness
-
Beteiligte:Syer, M. D. ( Autor:in ) / Nagappan, M. ( Autor:in ) / Adams, B. ( Autor:in ) / Hassan, A. E. ( Autor:in )
-
Erschienen in:IEEE TRANSACTIONS ON SOFTWARE ENGINEERING ; 41, 2 ; 176-197
-
Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS
-
Erscheinungsdatum:01.01.2015
-
Format / Umfang:22 pages
-
ISSN:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 005.1
- Weitere Informationen zu Dewey Decimal Classification
-
Klassifikation:
DDC: 005.1 -
Datenquelle:
© Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.
Inhaltsverzeichnis – Band 41, Ausgabe 2
Zeige alle Jahrgänge und Ausgaben
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 113
-
Exploiting Model Morphology for Event-Based TestingBelli, Fevzi / Beyazit, Mutlu et al. | 2015
- 135
-
How Software Designers Interact with Sketches at the WhiteboardMangano, Nicolas / LaToza, Thomas D. / Petre, Marian / van der Hoek, Andre et al. | 2015
- 157
-
Quantitative Evaluation of Model-Driven Performance Analysis and Simulation of Component-Based ArchitecturesBrosig, Fabian / Meier, Philipp / Becker, Steffen / Koziolek, Anne / Koziolek, Heiko / Kounev, Samuel et al. | 2015
- 176
-
Replicating and Re-Evaluating the Theory of Relative Defect-PronenessSyer, Mark D. / Nagappan, Meiyappan / Adams, Bram / Hassan, Ahmed E. et al. | 2015
- 198
-
STAR: Stack Trace Based Automatic Crash Reproduction via Symbolic ExecutionNing Chen, / Sunghun Kim, et al. | 2015