Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden — [Online-Ressource] (Deutsch, Englisch)
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2013
-
ISBN:
- Konferenzband / Datenträger
-
Titel:Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden
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Beteiligte:
-
Kongress:ITG/GI/GMM-Fachtagung ; 7 ; 2013 ; Dresden
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf, ZuE ; 7 ; 2013 ; Dresden -
Erschienen in:ITG-Fachbericht ; 244, CD-ROM
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Ausgabe:[Online-Ressource]
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Verlag:
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Erscheinungsort:Berlin , Offenbach
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Erscheinungsdatum:2013
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Format / Umfang:1 CD-ROM (12 cm)
-
Anmerkungen:12 cm
Text teilw. dt., teilw. engl. -
ISBN:
-
Medientyp:Konferenzband
-
Format:Datenträger
-
Sprache:Deutsch, Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
DDC: 621.38150285 BKL: 53.55 Mikroelektronik -
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis Konferenzband
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
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Register-Transfer Level NMR System GeneratorSimevski, Aleksandar / Kraemer, Rolf / Krstic, Milos et al. | 2013
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Failure Detection Methods for Flexray NetworksTrombetti, Daniela / Frei, Stephan / Metzner, Dieter / Hell, Magnus Maria et al. | 2013
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Algebraic decomposition for hardware-related behavioral modelingUygur, Gürkan / Sattler, Sebastian M. et al. | 2013
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Zuverlässigkeit von Relais bei der Qualifizierung von HalbleiterbauelementenHeymann, Sandra / Rößler, Marko / Pätz, Christian / Heinkel, Ulrich / Maichen, Wolfgang / Kuhn, Harald et al. | 2013
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Schichtenübergreifende Fehlertoleranz in On-Chip VerbindungsnetzwerkenSchley, Gert / Batzolis, Nikolaos / Radetzki, Martin et al. | 2013
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Self-Heating Effects in Nano-Scaled MOSFETs and Thermal-Aware Compact Models for the SOI CMOS Generation of 2015Burenkov, Alex / Lorenz, Jürgen et al. | 2013
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Fault Tolerance and Self Repair Using a Virtual TMR SchemeKoal, T. / Ulbricht, M. / Vierhaus, H. T. et al. | 2013
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Iterative Refinement of Dense Meander Segments in High-Speed Printed Circuit BoardsTseng, Tsun-Ming / Li, Bing / Ho, Tsung-Yi / Schlichtmann, Ulf et al. | 2013
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Einfluss von digitalen Layout-Varianten auf die Robustheit von ICsRauchenecker, Andreas / Hilber, Gerald / Stitz, Holley / Ostermann, Timm et al. | 2013
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Herausforderungen und Lösungsansätze für die Berücksichtigung des Alterungsverhaltens beim Entwurf integrierter SchaltungenJancke, Roland / Lange, André / Müller, Leif / Sohrmann, Christoph et al. | 2013
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Signal Integrity Trainings for Multi-clock Source-Synchronous Memory SystemsFang, Yuan / Jaiswal, Ashok / Hofmann, Klaus et al. | 2013
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Entwurfsablaufunterstützung für KMU beim modularen MikrosystementwurfGradek, Irena / Hahn, Kai / Kremer, Helmut / Brück, Rainer et al. | 2013
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Modellierung und Evaluierung von Standardzellen in FinFET-TechnologieKleeberger, Veit B. / Gräb, Helmut / Schlichtmann, Ulf et al. | 2013
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Analyse dynamischer Abhängigkeitsgraphen zum Debugging von HardwaredesignsMalburg, Jan / Finder, Alexander / Fey, Görschwin et al. | 2013
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Optimierung von Metallisierungsstrukturen mit Hilfe von thermischelektrisch-mechanischen FE-SimulationenKludt, J. / Weide-Zaage, K. / Hein, V. / Ackermann, M. / Moujbani, A. et al. | 2013
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Analyse analoger Schaltungseigenschaften bei Kurz- und LangzeitalterungseffektenHabal, Husni / Gräb, Helmut et al. | 2013
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An in situ Timing Measurement Method for Reliability Diagnosis of Digital CircuitsAryan, Nasim Pour / Wirnshofer, Martin / Georgakos, Georg / Schmitt-Landsiedel, Doris et al. | 2013