Analyse analoger Schaltungseigenschaften bei Kurz- und Langzeitalterungseffekten (Deutsch)
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In:
ZuE, ITG/GMM/GI-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf, 7
;
1-6
;
2013
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ISBN:
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Analyse analoger Schaltungseigenschaften bei Kurz- und Langzeitalterungseffekten
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Weitere Titelangaben:Considering Different Time Scales in Ageing Analysis of Analog Circuit Performance
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Beteiligte:Habal, Husni ( Autor:in ) / Gräb, Helmut ( Autor:in )
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Erschienen in:ITG-Fachberichte ; 244 ; 1-6
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Verlag:
- Neue Suche nach: VDE-Verlag
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Erscheinungsort:Berlin, Offenbach
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Erscheinungsdatum:2013
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Format / Umfang:6 Seiten, 5 Bilder, 14 Quellen
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ISBN:
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Deutsch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis Konferenzband
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