Wavefront and Coherence Characteristics of Extreme UV and Soft X-ray Sources (Englisch)
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Titel:Wavefront and Coherence Characteristics of Extreme UV and Soft X-ray Sources
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Beteiligte:Schäfer, Bernd ( Autor:in ) / Flöter, Bernhard ( Autor:in ) / Mey, Tobias ( Autor:in ) / Mann, Klaus ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2020
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Anmerkungen:Cham : Springer International Publishing, Topics in Applied Physics 134, 531 - 548 (2020). doi:10.1007/978-3-030-34413-9_20 ; Nanoscale Photonic Imaging / Salditt, Tim (Editor) ; Cham : Springer International Publishing, 2020, Chapter 20 ; ISSN: 0303-4216=1437-0859 ; ISBN: 978-3-030-34412-2=978-3-030-34413-9 ; doi:10.1007/978-3-030-34413-9
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Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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