Talbot- Lau interferometry with a non- binary phase grating for non-destructive testing (Englisch)
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- Aufsatz (Konferenz) / Elektronische Ressource
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Titel:Talbot- Lau interferometry with a non- binary phase grating for non-destructive testing
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Beteiligte:Shashev, Yury ( Autor:in ) / Kupsch, Andreas ( Autor:in ) / Lange, Axel ( Autor:in ) / Britzke, Ralf ( Autor:in ) / Bruno, Giovanni ( Autor:in ) / Mueller, Bernd R. ( Autor:in ) / Hentschel, Manfred P. ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2016
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
DDC: 620 -
Lizenzbestimmungen:
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Datenquelle: