Photoreflectance Method (Englisch)
- Neue Suche nach: K.S. Wong, Terence
- Neue Suche nach: K.S. Wong, Terence
In:
Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications
;
1
;
2012
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
-
Titel:Photoreflectance Method
-
Beteiligte:K.S. Wong, Terence ( Autor:in )
-
Erschienen in:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Bentham Science Publishers Ltd.
-
Erscheinungsdatum:2012
-
ISBN:
-
Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
-
Format:Elektronische Ressource
-
Sprache:Englisch
-
Schlagwörter:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 1
-
PART 1: INTRODUCTIONK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 2
-
Introduction to Strain Metrology for SemiconductorsK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 3
-
Strain, Stress and Semiconductor PropertiesK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 4
-
PART 2: OPTICAL STRAIN METROLOGYK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 5
-
Variable Angle Spectroscopic EllipsometryK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 6
-
Photoreflectance MethodK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 7
-
Micro-Raman SpectroscopyK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 8
-
PART 3: ELECTRON BEAM STRAIN METROLOGYK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 9
-
Cathodoluminescence MethodK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 10
-
Nano-Beam Diffraction and Convergent Beam Electron DiffractionK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 11
-
Dark-Field Electron Holographic Moire MethodK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 12
-
PART 4: EMERGING STRAIN METROLOGYK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 13
-
Tip-Enhanced Raman SpectroscopyK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 14
-
Atomic Force Microscopy Digital Image Correlation MethodK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 15
-
Synchrotron X-ray Micro/Nanodiffraction MethodsK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 16
-
Conclusion and OutlookK.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 17
-
Appendix 1K.S. Wong, Terence et al. | 2012
- 18
-
IndexK.S. Wong, Terence et al. | 2012