Multilevel effective material approximation for modeling ellipsometric measurements on complex porous thin films (Englisch)
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In:
Advanced Optical Technologies
;
11
, 3-4
;
137-147
;
2022
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
-
Titel:Multilevel effective material approximation for modeling ellipsometric measurements on complex porous thin films
-
Beteiligte:Sachse, René ( Autor:in ) / Hodoroaba, Vasile-Dan ( Autor:in ) / Kraehnert, Ralph ( Autor:in ) / Hertwig, Andreas ( Autor:in )
-
Erschienen in:Advanced Optical Technologies ; 11, 3-4 ; 137-147
-
Verlag:
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Erscheinungsdatum:27.09.2022
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Format / Umfang:11 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Lizenzbestimmungen:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 11, Ausgabe 3-4
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