Interferometric techniques for correction of sample tilt in the Sommargren profilometer for surface roughness studies (Englisch)
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In:
Optics and Laser Technology
;
23
, 2
;
98-104
;
1990
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Interferometric techniques for correction of sample tilt in the Sommargren profilometer for surface roughness studies
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Beteiligte:Shukla, R.P. ( Autor:in ) / Perera, G.M. ( Autor:in ) / Venkateswarlu, P. ( Autor:in ) / George, M.C. ( Autor:in )
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Erschienen in:Optics and Laser Technology ; 23, 2 ; 98-104
-
Verlag:
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Erscheinungsdatum:29.11.1990
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Format / Umfang:7 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 23, Ausgabe 2
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