Understanding the cross-country effects of U.S. technology shocks (Englisch)
- Neue Suche nach: Miyamoto, Wataru
- Neue Suche nach: Nguyen, Thuy Lan
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- Neue Suche nach: Nguyen, Thuy Lan
In:
Journal of International Economics
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106
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143-164
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2017
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Understanding the cross-country effects of U.S. technology shocks
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Beteiligte:Miyamoto, Wataru ( Autor:in ) / Nguyen, Thuy Lan ( Autor:in )
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Erschienen in:Journal of International Economics ; 106 ; 143-164
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Elsevier B.V.
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Erscheinungsdatum:20.03.2017
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Format / Umfang:22 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 106
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