In situ STEM analysis of electron beam induced chemical etching of an ultra-thin amorphous carbon foil by oxygen during high resolution scanning (Englisch)
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In:
Ultramicroscopy
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235
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2022
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:In situ STEM analysis of electron beam induced chemical etching of an ultra-thin amorphous carbon foil by oxygen during high resolution scanning
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Beteiligte:Noisternig, Stefan Manuel ( Autor:in ) / Rentenberger, Christian ( Autor:in ) / Karnthaler, H. Peter ( Autor:in )
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Erschienen in:Ultramicroscopy ; 235
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:30.01.2022
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 235
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