Modeling the economics of testing: a DFT perspective (Englisch)
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In:
IEEE Design & Test of Computers
;
19
, 1
;
29-41
;
2002
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
-
Titel:Modeling the economics of testing: a DFT perspective
-
Beteiligte:Nag, P.K. ( Autor:in ) / Gattiker, A. ( Autor:in ) / Sichao Wei, ( Autor:in ) / Blanton, R.D. ( Autor:in ) / Maly, W. ( Autor:in )
-
Erschienen in:IEEE Design & Test of Computers ; 19, 1 ; 29-41
-
Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE
-
Erscheinungsdatum:01.01.2002
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Format / Umfang:184966 byte
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ISSN:
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DOI:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 19, Ausgabe 1
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