The last byte - Yet another thiotimoline application (Englisch)
- Neue Suche nach: Nelson, R.
- Neue Suche nach: Nelson, R.
In:
IEEE Design & Test of Computers
;
19
, 2
;
80
;
2002
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
-
Titel:The last byte - Yet another thiotimoline application
-
Beteiligte:Nelson, R. ( Autor:in )
-
Erschienen in:IEEE Design & Test of Computers ; 19, 2 ; 80
-
Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE
-
Erscheinungsdatum:01.03.2002
-
Format / Umfang:187232 byte
-
ISSN:
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Elektronische Ressource
-
Sprache:Englisch
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 19, Ausgabe 2
Zeige alle Jahrgänge und Ausgaben
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 4
-
Theme Features - Characterizing Substrate Coupling in Deep-Submicron DesignsMiguel Silveira, Luis et al. | 2002
- 4
-
Characterizing substrate coupling in deep-submicron designsSilveira, L.M. / Vargas, N. et al. | 2002
- 16
-
Theme Features - Online Testing Approach for Very Deep-Submicron ICsFavalli, Michele et al. | 2002
- 16
-
Online testing approach for very deep-submicron ICsFavalli, M. / Metra, C. et al. | 2002
- 24
-
I/sub DDQ/ testing for deep-submicron ICs: challenges and solutionsZhanping Chen, / Liqiong Wei, / Keshavarzi, A. / Roy, K. et al. | 2002
- 24
-
Theme Features - Testing for Deep-Submicron ICs: Challenges and SolutionsChen, Zhanping et al. | 2002
- 34
-
CMOS circuits with subvolt supply voltagesStan, M.R. et al. | 2002
- 34
-
Theme Features - CMOS Circuits with Subvolt Supply VoltagesStan, Mircea R. et al. | 2002
- 44
-
Image processing techniques for wafer defect cluster identificationChenn-Jung Huang, / Chi-Feng Wu, / Chua-Chin Wang, et al. | 2002
- 44
-
Theme Features - Image Processing Techniques for Wafer Defect Cluster IdentificationHuang, Chenn-Jung et al. | 2002
- 50
-
Resizing rules for MOS analog-design reuseGalup-Montoro, C. / Schneider, M.C. / Coitinho, R.M. et al. | 2002
- 50
-
Theme Features - Resizing Rules for MOS Analog Design ReuseGalup-Montoro, Carlos et al. | 2002
- 60
-
Special Feature - Multilevel Testing for Design Verification of Embedded SystemsSchulz, Stephan et al. | 2002
- 60
-
Multilevel testing for design verification of embedded systemsSchulz, S. / Buchenrieder, K.J. / Rozenblit, J.W. et al. | 2002
- 70
-
The Road Ahead - Shared red bricksKahng, A.B. et al. | 2002
- 72
-
Standards - The IEEE standards processAshenden, P.J. et al. | 2002
- 74
-
Panel Summaries - ITC 2001 panels: part 2Stolicny, C. et al. | 2002
- 80
-
The last byte - Yet another thiotimoline applicationNelson, R. et al. | 2002