Rotational speed sensors: limitations, pre-processing and automotive applications (Englisch)
- Neue Suche nach: Gustafsson, F.
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In:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine
;
13
, 2
;
16-23
;
2010
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
-
Titel:Rotational speed sensors: limitations, pre-processing and automotive applications
-
Beteiligte:Gustafsson, F. ( Autor:in )
-
Erschienen in:IEEE Instrumentation & Measurement Magazine ; 13, 2 ; 16-23
-
Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE
-
Erscheinungsdatum:01.04.2010
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Format / Umfang:1586003 byte
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 13, Ausgabe 2
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- 2
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Applications of control theory to real life [From the Editor's Bench]Engelberg, Shlomo et al. | 2010
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From the Editor's BenchHarnett, Cindy et al. | 2010
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President's PerspectivesChisnell, Dana et al. | 2010
- 6
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Adcom volunteer effort - [President's Perspectives]Fowler, Kim et al. | 2010
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Nanotechnology in environmental sensorsHarnett, Cindy et al. | 2010
- 13
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Usability testing: Taking the experience into accountChisnell, Dana et al. | 2010
- 16
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Rotational speed sensors: limitations, pre-processing and automotive applicationsGustafsson, F. et al. | 2010
- 16
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Rotational Speed Sensors: Limitations, Pre-processing and Automotive Applications: Tutorial 23| 2010
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High-frequency dielectric measurementsBaker-Jarvis, James / Janezic, Michael / Degroot, Donald et al. | 2010
- 24
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High-Frequency Dielectric Measurements: Tutorial 24| 2010
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A capacitive-sensing based simple serial mouse [Instrumentationnotes]Engelberg, Shlomo / Hazout, Haim Hay / Hirshowitz, Jonathan et al. | 2010
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Instrumentation Notes| 2010
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By the Numbers| 2010
- 38
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Least-squares fitting of data by rational functions: Levy's method (part 2) [Bythenumbers]Dyer, Stephen A. / Dyer, Justin S. et al. | 2010
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In metrology, simpler is better [Recalibration]Kibble, Bryan P. et al. | 2010
- 43
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Recalibration| 2010
- 46
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NewproductsGoldberg, Robert et al. | 2010
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TC News| 2010
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Technical committee reports on technical and standards activities fall 2009 [TCnews]Lee, Kang et al. | 2010
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