X-ray in situ observation of semiconductor heteroepitaxy: from surface reconstruction to island growth (Englisch)
Nationallizenz
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In:
Semiconductor Science and Technology
;
26
, 6
;
064003
;
2011
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:X-ray in situ observation of semiconductor heteroepitaxy: from surface reconstruction to island growth
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Beteiligte:Schülli, T U ( Autor:in )
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Erschienen in:Semiconductor Science and Technology ; 26, 6 ; 064003
-
Erscheinungsdatum:01.06.2011
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 26, Ausgabe 6
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