In Situ Detection of Surface SiHn in Synchrotron-Radiation-Induced Chemical Vapor Deposition of a-Si on an SiO2 Substrate (Englisch)
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In:
JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION
;
2
, Pt 4
;
196-200
;
1995
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:In Situ Detection of Surface SiHn in Synchrotron-Radiation-Induced Chemical Vapor Deposition of a-Si on an SiO2 Substrate
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Beteiligte:Yoshigoe, A. ( Autor:in ) / Nagasono, M. ( Autor:in ) / Mase, K. ( Autor:in ) / Urisu, T. ( Autor:in ) / Seki, S. ( Autor:in ) / Nakagawa, Y. ( Autor:in )
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Erschienen in:JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION ; 2, Pt 4 ; 196-200
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Verlag:
- Neue Suche nach: International Union of Crystallography
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Erscheinungsdatum:01.07.1995
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Format / Umfang:5 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 2, Ausgabe Pt 4
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Perfect Crystals in the Asymmetric Bragg Geometry as Optical Elements for Coherent X-ray BeamsBrauer, S. / Stephenson, G. B. / Sutton, M. et al. | 1995
- 174
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Curved Crystal Transmission Optics for Energy-Dispersive X-ray Absorption SpectroscopyHagelstein, M. / Ferrero, C. / Hatje, U. / Ressler, T. / Metz, W. et al. | 1995
- 181
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The Use of Imaging Plates in Electron-Density Mapping with Synchrotron X-raysBolotovsky, R. / Darovsky, A. / Kezerashvili, V. / Coppens, P. et al. | 1995
- 185
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Application of Synchrotron Radiation Laue Diffraction to Small Single Crystals of a Mineral – Structure Determination and IdentificationKariuki, B. M. / Harding, M. M. et al. | 1995
- 190
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XFIT – an Interactive EXAFSAnalysis ProgramEllis, P. J. / Freeman, H. C. et al. | 1995
- 196
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In Situ Detection of Surface SiHn in Synchrotron-Radiation-Induced Chemical Vapor Deposition of a-Si on an SiO2 SubstrateYoshigoe, A. / Nagasono, M. / Mase, K. / Urisu, T. / Seki, S. / Nakagawa, Y. et al. | 1995
- 201
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The k-space components of a photoelectron from an arbitrarily oriented crystal faceMian, M. / Flavell, W. R. et al. | 1995
- 203
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Notes for Authors| 1995