Wide range control of the sustaining voltage of electrostatic discharge protection elements realized in a smart power technology (Englisch)
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In:
Microelectronics reliability
;
41
, 3
; 385-394
;
2001
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:Wide range control of the sustaining voltage of electrostatic discharge protection elements realized in a smart power technology
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Beteiligte:
-
Erschienen in:Microelectronics reliability ; 41, 3 ; 385-394
-
Verlag:
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Erscheinungsort:Amsterdam [u.a.]
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Erscheinungsdatum:2001
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ISSN:
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ZDBID:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 41, Ausgabe 3
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EditorialVerhaege, Koen G. et al. | 2001
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A strategy for characterization and evaluation of ESD robustness of CMOS semiconductor technologiesVoldman, S. et al. | 2001
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An anti-snapback circuit technique for inhibiting parasitic bipolar conduction during EOS-ESD eventsSmith, Jeremy C. et al. | 2001
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Stacked PMOS clamps for high voltage power supply protectionMaloney, Timothy J. et al. | 2001
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Reliability considerations for ESD protection under wire bonding padsAnderson, Warren R. et al. | 2001
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Influence of gate length on ESD-performance for deep submicron CMOS technologyBock, K. et al. | 2001
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Wide range control of the sustaining voltage of electrostatic discharge protection elements realized in a smart power technologyGossner, H. et al. | 2001
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Investigations on double-diffused MOS transistors under ESD zap conditionsBoselli, Gianluca et al. | 2001
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Hardware-firmware co-design in an 8-bits microcontroller to solve the system-level ESD issue on keyboardKer, Ming-Dou et al. | 2001
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Transport and noise properties of CdTe(Cl) crystalsSchauer, P. et al. | 2001
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A new degradation model and lifetime extrapolation technique for lightly doped drain nMOSFETs under hot-carrier degradationDreesen, R. et al. | 2001
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Modeling bimodal electromigration failure distributionsFischer, A.H. et al. | 2001
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An in-line process monitoring method using electron beam induced substrate currentYamada, Keizo et al. | 2001
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Improved reliability in small multichip ball grid arraysMoore, Thomas D. et al. | 2001
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Testing and improvement of micro-optical-switch dynamicsRembe, Christian et al. | 2001