Errors, Artifacts, and Improvements in EBSD Processing and Mapping (Englisch)
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In:
Microscopy and microanalysis
;
11
, 1
; 79-87
;
2005
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:Errors, Artifacts, and Improvements in EBSD Processing and Mapping
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Beteiligte:Tao, Xiaodong ( Autor:in ) / Eades, Alwyn
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Erschienen in:Microscopy and microanalysis ; 11, 1 ; 79-87
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Cambridge University Press
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Erscheinungsort:New York, NY
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Erscheinungsdatum:2005
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ISSN:
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ZDBID:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 11, Ausgabe 1
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Cytochemical Differences in Bacterial GlycocalyxKrautgartner, Wolf Dietrich et al. | 2005
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Wavelet Compression of Three-Dimensional Time-Lapse Biological Image DataStefonsson, H. Narfi et al. | 2005
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The Decapod Crustacean Circulatory System: A Case That Is neither Open nor ClosedMcGaw, Iain J. et al. | 2005
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Use of an Automated Image Processing Program to Quantify Recombinant Adenovirus ParticlesObenauer-Kutner, Linda J. et al. | 2005
- 42
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The Transillumination Possibility of Imidazole-Osmium Postfixed Tissue and Its Consequences for the Handling of Tissue SamplesVoigt, Tilman et al. | 2005
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Microstructure Analysis of a Carbon-Carbon Composite Using Argon Ion EtchingPfrang, Andreas et al. | 2005
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Determination of E2 for Nitride Ceramics Using FE-SEM and the Duane-Hunt Limit ProcedureBrochu, M. et al. | 2005
- 66
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Off-Axis Electron Holography of Unbiased and Reverse-Biased Focused Ion Beam Milled Si p-n junctionsTwitchett, Alison C. et al. | 2005
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Errors, Artifacts, and Improvements in EBSD Processing and MappingTao, Xiaodong et al. | 2005
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Improved Background Removal Method Using Principal Components Analysis for Spatially Resolved Electron Energy Loss SpectroscopyBorglund, Niclas et al. | 2005
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Low-Energy STEM of Multilayers and Dopant ProfilesMerli, P. G. et al. | 2005