YOR: A Yield-Optimizing Routing Algorithm by Minimizing Critical Areas and Vias (Englisch)
- Neue Suche nach: Kuo, S.-Y.
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In:
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
;
12
, 9
; 1303-1311
;
1993
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:YOR: A Yield-Optimizing Routing Algorithm by Minimizing Critical Areas and Vias
-
Beteiligte:Kuo, S.-Y. ( Autor:in )
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Erschienen in:IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems ; 12, 9 ; 1303-1311
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Erscheinungsort:New York, NY
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Erscheinungsdatum:1993
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ISSN:
-
ZDBID:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
Lokalklassifikation TIB: 770/3155/5670 BKL: 53.52 Elektronische Schaltungen / 33.72 Halbleiterphysik / 33.61 Festkörperphysik / 53.51 Bauelemente der Elektronik -
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 12, Ausgabe 9
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EDITORIAL| 1993
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Restructuring of Square Processor Arrays by Built-in Self-Repair CircuitMazumder, P. et al. | 1993
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Global Optimization Approach for Architectural SynthesisGebotys, C.H. et al. | 1993
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PLS: A Scheduler for Pipeline SynthesisHwang, C.-T. et al. | 1993
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Component Sysnthesis From Functional DescriptionsRundensteiner, E.A. et al. | 1993
- 1300
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On (O)p2 Algorithms for PlanarizationCarson, D.I. et al. | 1993
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YOR: A Yield-Optimizing Routing Algorithm by Minimizing Critical Areas and ViasKuo, S.-Y. et al. | 1993
- 1312
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Wolverines: Standard Cell Placement on a Network of WorkstationsMohan, S. et al. | 1993
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A Numerical Method to Compute Isotropic Band Models from Anistropic Semiconductor Band StructuresAbramo, A. et al. | 1993
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A numerical method to compute isotropic band models from anisotropic semiconductor band structuresAbramo, A. / Venturi, F. / Sangiorgio, E. / Higman, J.M. / Ricco, B. et al. | 1993
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A New Grid-Generation Method for 2-D Simulation of Devices with Nonplanar Semiconductor SurfaceChin, S.-P. et al. | 1993
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An Efficient Volume-Removal Algorithm for Practical Three-Dimensional Lithography Simulation with Experimental VerificationScheckler, E.W. et al. | 1993
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Computer-aided design and scaling of deep submicron CMOSSpecks, J.W. / Engl, W.L. et al. | 1993
- 1357
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Computer-Aided Deisgn and Scaling of Deep Submicron CMOSSpecks, J.W. et al. | 1993
- 1368
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Compact Modeling of BJT Self-Heating in SPICEZweidinger, D.T. et al. | 1993
- 1376
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TOSCA: A Simulator for Switched-Capacitor Noise-Shaping A-D ConvertersLiberali, V. et al. | 1993
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ILLIADS: A Fast Timing and Reliability Simulator for Digital MOS CircuitsShih, Y.-H. et al. | 1993
- 1403
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Fault Simulation of Parametric Bridging Faults in CMOS IC'sDalpasso, M. et al. | 1993
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The Shadow Algorithm: A Scheduling Technique for Both Compiled and Interpreted SimulationMaurer, P.M. et al. | 1993
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Acceleration of Traced-Based Fault Simulation of Combinational CircuitsSong, O. et al. | 1993
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3-Valued Trace-Based Fault Simulation of Synchronous Sequential CircuitsSong, O. et al. | 1993