50 Years of Test Technology - ATE: Making Electronics Practical (Englisch)
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In:
Evaluation engineering
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51
, 12
; 32-31
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2012
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:50 Years of Test Technology - ATE: Making Electronics Practical
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Beteiligte:Lecklider, Tom ( Autor:in )
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Erschienen in:Evaluation engineering ; 51, 12 ; 32-31
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Erscheinungsort:Chicago, Ill.
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Erscheinungsdatum:2012
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ISSN:
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ZDBID:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Klassifikation:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 51, Ausgabe 12
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50 Years of Test Technology - ATE: Making Electronics PracticalLecklider, Tom et al. | 2012