Estimating the reliability of aluminum metallization of integrated circuits by accelerated electromigration testing at constant temperature (Englisch)
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In:
Russian Microelectronics
;
44
, 7
; 453-459
;
2015
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:Estimating the reliability of aluminum metallization of integrated circuits by accelerated electromigration testing at constant temperature
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Beteiligte:Safonov, S. O. ( Autor:in ) / Bespalov, V. P. ( Autor:in ) / Golishnikov, A. A. ( Autor:in ) / Putrya, M. G. ( Autor:in )
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Erschienen in:Russian Microelectronics ; 44, 7 ; 453-459
-
Verlag:
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Erscheinungsort:New York, NY
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Erscheinungsdatum:2015
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ISSN:
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ZDBID:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
BKL: 54.00 Informatik: Allgemeines Lokalklassifikation TIB: 770/5670/8000 -
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 44, Ausgabe 7
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Simultaneous activation of the field-emission and secondary-emission cathodes of a magnetron with a nonincandescent launchLi, I. P. / Petrov, V. S. / Polyakov, V. S. / Silaev, A. D. / Ledentsova, N. E. / Minin, A. A. / Gaidar, A. I. et al. | 2015
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Investigating the formation of nanostructured emission mediums for high-current radio-frequency electronicsBespalov, V. A. / Il’ichev, E. A. / Kirilenko, E. P. / Kozlitin, A. I. / Kuleshov, A. E. / Migunov, D. M. / Nabiev, R. M. / Petrukhin, G. N. / Rychkov, G. S. / Sakharov, O. A. et al. | 2015
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Investigation into the plasma formation of polysilicon interconnections on a complex reliefGalperin, V. A. / Razzhivin, N. A. et al. | 2015
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Electrically programmable nonvolatile memory in CMOS technologyErmakov, I. V. / Shelepin, N. A. et al. | 2015
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Estimating the reliability of aluminum metallization of integrated circuits by accelerated electromigration testing at constant temperatureSafonov, S. O. / Bespalov, V. P. / Golishnikov, A. A. / Putrya, M. G. et al. | 2015
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Simulation of the Bosch process for micro- and nanostructuresMukhamadeev, R. A. / Danilina, T. I. / Troyan, P. E. et al. | 2015
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Investigation of the physical processes in BISPIN structures in pulsation modeBykov, D. V. / Grigor’ev, F. I. / Lysenko, A. P. / Strogankova, N. I. et al. | 2015
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Frequency multipliers with improved suppression of the secondary components of the output signalShekhovtsov, D. V. / Mushta, A. I. / Balashov, Yu. S. et al. | 2015
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Nondestructive method for determining the voltage of current pinching in powerful radiofrequency and microwave bipolar transistorsSergeev, V. A. / Kulikov, A. A. et al. | 2015
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Development of integrated circuits for the reception path based on the SiGe-heterojunction bipolar transistors for the frequency range of 57–64 GHzKoptsev, D. A. / Dmitriev, V. A. et al. | 2015
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Silicon-based nanostructures formed by plasma etching through a mask formed by a focused beam of Ga+ ionsBobrinetskii, I. I. / Volkova, A. V. / Zaitsev, A. A. / Nevolin, V. K. / Tsarik, K. A. / Chudinov, A. A. et al. | 2015
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Microsystem with magnetic-transistor transducers for vibration monitoringGrigor’ev, D. M. / Zavrazhina, A. Yu. / Polomoshnov, S. A. / Tikhonov, R. D. / Cheremisinov, A. A. et al. | 2015
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Simulation of a membrane-based gas flow sensorBespalov, V. A. / Vasil’ev, I. A. / Dyuzhev, N. A. / Mazurkin, N. S. / Novikov, D. V. / Popkov, A. F. et al. | 2015
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Noise protected 1-of-4 coding system with active zero for computing systemsLosev, V. V. / Chaplygin, Yu. A. / Orlov, D. V. et al. | 2015
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Parametric design and verification of inertial navigation systemsSablin, A. V. / Alekseev, V. E. / Solov’ev, A. N. et al. | 2015