Verification of $ CuInSe_{2} $ density of states features by reflection electron energy loss spectroscopy (Englisch)
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In:
Applied Physics A
;
46
, 2
; 137-143
;
1988
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:Verification of $ CuInSe_{2} $ density of states features by reflection electron energy loss spectroscopy
-
Beteiligte:
-
Erschienen in:Applied Physics A ; 46, 2 ; 137-143
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Verlag:
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Erscheinungsort:Berlin
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Erscheinungsdatum:1988
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ISSN:
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ZDBID:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
BKL: 51.00 Werkstoffkunde: Allgemeines / 33.60 Kondensierte Materie: Allgemeines / 53.09 Werkstoffe der Elektrotechnik Lokalklassifikation TIB: 020/3475/3485 -
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 46, Ausgabe 2
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Nitrogen-oxygen complexes in Czochralski-siliconWagner, P. / Oeder, R. / Zulehner, W. et al. | 1988
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X-ray Photoelectron Spectroscopy of silicon oxynitride layers obtained by low-energy ion implantationBenkherourou, O. / Deville, J. P. et al. | 1988
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Threshold switching effects in AgTlSe2 and CuTlSe2 filmsAfifi, M. A. / Labib, H. H. A. / Abou El Ela, A. H. / Sharaf, K. A. et al. | 1988
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LEED investigations on pure and metal treated vicinal silicon(111)Jentzsch, F. / Henzler, M. et al. | 1988
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Tin-related shallow donor in indium selenideMarí, B. / Segura, A. / Chevy, A. et al. | 1988
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Stability of liquid-metal ion sourcesVladimirov, V. V. / Gorshkov, V. N. et al. | 1988
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Verification of CuInSe2 density of states features by reflection electron energy loss spectroscopyKleint, Ch. / Funke, M. / Tomlinson, R. D. et al. | 1988
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Influence of surface roughness on adsorbate mobilityBłaszczyszyn, R. / Kleint, Ch. et al. | 1988
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The defect structure of the high-T c superconductors in the system Bi-Ca-Sr-Cu-OTendeloo, G. / Zandbergen, H. W. / Landuyt, J. / Amelinckx, S. et al. | 1988
- A5
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Forthcoming papers| 1988