A Novel Built-In Self-Repair Approach for Embedded RAMs (Englisch)
- Neue Suche nach: Lu, Shyue-Kung
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In:
Journal of Electronic Testing
;
19
, 3
; 315-324
;
2003
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:A Novel Built-In Self-Repair Approach for Embedded RAMs
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Beteiligte:Lu, Shyue-Kung ( Autor:in )
-
Erschienen in:Journal of Electronic Testing ; 19, 3 ; 315-324
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Kluwer Academic Publishers
- Neue Suche nach: Kluwer
-
Erscheinungsort:Boston, Mass. [u.a.]
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Erscheinungsdatum:2003
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ISSN:
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ZDBID:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
-
Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 19, Ausgabe 3
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