Image Based Analysis of Complex Microstructures of Engineering Materials (Englisch)
- Neue Suche nach: Wejrzanowski, Tomasz
- Neue Suche nach: Spychalski, Wojciech
- Neue Suche nach: Różniatowski, Krzysztof
- Neue Suche nach: Kurzydłowski, Krzysztof
- Neue Suche nach: Wejrzanowski, Tomasz
- Neue Suche nach: Spychalski, Wojciech
- Neue Suche nach: Różniatowski, Krzysztof
- Neue Suche nach: Kurzydłowski, Krzysztof
In:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
;
18
, 1
; 33-39
;
2008
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:Image Based Analysis of Complex Microstructures of Engineering Materials
-
Beteiligte:Wejrzanowski, Tomasz ( Autor:in ) / Spychalski, Wojciech ( Autor:in ) / Różniatowski, Krzysztof ( Autor:in ) / Kurzydłowski, Krzysztof ( Autor:in )
-
Erschienen in:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Versita
- Neue Suche nach: Technical University of Zielona Góra
-
Erscheinungsort:Zielona Góra
-
Erscheinungsdatum:2008
-
ISSN:
-
ZDBID:
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 54.00$jInformatik: Allgemeines / 54.00 / 31.80$jAngewandte Mathematik / 31.80
- Weitere Informationen zu Basisklassifikation
-
Schlagwörter:
-
Klassifikation:
BKL: 54.00$jInformatik: Allgemeines / 54.00 Informatik: Allgemeines / 31.80$jAngewandte Mathematik / 31.80 Angewandte Mathematik -
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 18, Ausgabe 1
Zeige alle Jahrgänge und Ausgaben
Die Inhaltsverzeichnisse werden automatisch erzeugt und basieren auf den im Index des TIB-Portals verfügbaren Einzelnachweisen der enthaltenen Beiträge. Die Anzeige der Inhaltsverzeichnisse kann daher unvollständig oder lückenhaft sein.
- 7
-
A Generalised Approach to the use of Sampling for Rapid Object LocationDavies, E. et al. | 2008
- 21
-
Detection of Moving Objects in Image Sequences using 3D Velocity FiltersSchauland, Sam / Velten, Joerg / Kummert, Anton et al. | 2008
- 33
-
Image Based Analysis of Complex Microstructures of Engineering MaterialsWejrzanowski, Tomasz / Spychalski, Wojciech / Różniatowski, Krzysztof / Kurzydłowski, Krzysztof et al. | 2008
- 41
-
Local Correlation and Entropy Maps as Tools for Detecting Defects in Industrial ImagesSkubalska-Rafajłowicz, Ewa et al. | 2008
- 49
-
Nonlinear Image Processing and Filtering: A Unified Approach Based on Vertically Weighted RegressionRafajłowicz, Ewaryst / Pawlak, Mirosław / Steland, Angsar et al. | 2008
- 63
-
Interpolation-Based Reconstruction Methods for Tomographic Imaging in 3D Positron Emission TomographyLi, Yingbo / Kummert, Anton / Boschen, Fritz / Herzog, Hans et al. | 2008
- 75
-
Classification of Breast Cancer Malignancy Using Cytological Images of Fine Needle Aspiration BiopsiesJeleń, Łukasz / Fevens, Thomas / Krzyżak, Adam et al. | 2008
- 85
-
Circular Object Detection Using a Modified Hough TransformSmereka, Marcin / Dulęba, Ignacy et al. | 2008
- 93
-
M-Ary Phase Modulation for Digital WatermarkingXin, Yongqing / Pawlak, Mirosław et al. | 2008
- 105
-
Remarks on Hardware Implementation of Image Processing AlgorithmsWnuk, Marek et al. | 2008