Sapphire fabrication for precision optics (Englisch)
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- Neue Suche nach: Funkenbusch, Paul D.
In:
Proc. SPIE
;
2857
; 99
;
1996
-
ISBN:
-
ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Elektronische Ressource
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Titel:Sapphire fabrication for precision optics
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Beteiligte:Smith, Maynard B. ( Autor:in ) / Schmid, Frederick ( Autor:in ) / Khattak, Chandra P. ( Autor:in ) / Schmid, Keil A. ( Autor:in ) / Golini, Donald ( Autor:in ) / Lambropoulos, John C. ( Autor:in ) / Atwood, Mark A. ( Autor:in ) / Zhou, Y. Y. ( Autor:in ) / Funkenbusch, Paul D. ( Autor:in )
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Kongress:Advanced Materials for Optical and Precision Structures ; 1996 ; Denver,CO,United States
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Erschienen in:Proc. SPIE ; 2857 ; 99
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Verlag:
- Neue Suche nach: SPIE
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Erscheinungsdatum:11.11.1996
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ISBN:
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis Konferenzband
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Design considerations for mirror materialsGulati, Suresh T. et al. | 1996
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Design considerations for mirror materials [2857-01]Gulati, S. T. / SPIE et al. | 1996
- 12
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New correction method for FTIR online film thickness measurement [2857-02]Wang, D. / Yang, Y. / Zou, J. / SPIE et al. | 1996
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New correction method for FTIR online film-thickness measurementWang, Dongsheng / Yang, Yunping / Zou, Jizuo et al. | 1996
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Thermal diffusivity measurement of materials using photoacoustic two-beam phase lag methodCai, Hai-Tao / Fung, KhaiMum et al. | 1996
- 21
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Thermal diffusivity measurement of materials using photoacoustic two-beam phase lag method [2857-03]Cai, H. T. / Fung, P. C. W. / SPIE et al. | 1996
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Thermal analysis on hex-placement patterns of the Gemini primary mirrorsCho, Myung K. / Powell, William R. et al. | 1996
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Thermal analysis on hex placement patterns of the Gemini primary mirrors [2857-06]Cho, M. K. / Powell, W. R. / SPIE et al. | 1996
- 45
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Estimation of the on-orbit distortion of the Mars Orbiter Laser Altimeter (MOLA II) primary mirror [2857-07]Generie, P. / Hayden, W. L. / SPIE et al. | 1996
- 45
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Estimation of the on-orbit distortion of the Mars Orbiter Laser Altimeter (MOLA II) primary mirrorGenerie, Pamela / Hayden, William L. et al. | 1996
- 58
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Improved precision of absolute thermal-expansion measurements for ULE glass [2857-10]Edwards, M. J. / Bullock, E. H. / Morton, D. E. / SPIE et al. | 1996
- 58
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Improved precision of absolute thermal-expansion measurements for ULE glassEdwards, Mary J. / Bullock, Emily H. / Morton, Deborah E. et al. | 1996
- 66
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Developmental history and trends for reaction-bonded silicon carbide mirrorsEaley, Mark A. / Weaver, Gerald Q. et al. | 1996
- 66
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Developmental history and trends for reaction-bonded silicon carbide mirrors [2857-11]Ealey, M. A. / Weaver, G. Q. / SPIE et al. | 1996
- 73
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Ultralightweight silicon carbide mirror design [2857-12]Ealey, M. A. / Wellman, J. A. / SPIE et al. | 1996
- 73
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Ultralightweight silicon carbide mirror designEaley, Mark A. / Wellman, John A. et al. | 1996
- 78
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Polishability of CERAFORM silicon carbide [2857-13]Ealey, M. A. / Wellman, J. A. / SPIE et al. | 1996
- 78
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Polishability of CERAFORM silicon carbideEaley, Mark A. / Wellman, John A. et al. | 1996
- 86
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Use of beryllium for the VLT secondary mirrorCayrel, Marc / Paquin, Roger A. / Parsonage, Thomas B. / Stanghellini, Stefano / Dost, Karl H. et al. | 1996
- 86
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Use of beryllium for the VLT secondary mirror [2857-23]Cayrel, M. / Paquin, R. A. / Parsonage, T. B. / Stanghellini, S. / SPIE et al. | 1996
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Sapphire fabrication for precision optics [2857-18]Smith, M. B. / Schmid, F. / Khattak, C. P. / Schmid, K. / SPIE et al. | 1996
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Sapphire fabrication for precision opticsSmith, Maynard B. / Schmid, Frederick / Khattak, Chandra P. / Schmid, Keil A. / Golini, Donald / Lambropoulos, John C. / Atwood, Mark A. / Zhou, Y. Y. / Funkenbusch, Paul D. et al. | 1996
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Behavior of Ni~xC~1~-~x/Ti multilayers under neutron irradiation [2857-20]N'Guy, K. / Menelle, A. / Gergaud, P. / Al Usta, K. / SPIE et al. | 1996
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Behavior of NixC1-x/Ti multilayers under neutron irradiationN'Guy, Kalyana / Menelle, A. / Gergaud, P. / Al Usta, Klaus et al. | 1996