A two-stage electron microscope using a pointed filament (Englisch)
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In:
Physikalisch-Technischer Teil
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169-170
;
1960
- Aufsatz/Kapitel (Buch) / Elektronische Ressource
-
Titel:A two-stage electron microscope using a pointed filament
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Beteiligte:Hibi, T. ( Autor:in ) / Takahashi, S. ( Autor:in )
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Erschienen in:Physikalisch-Technischer Teil ; 169-170
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Verlag:
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-
Erscheinungsort:Berlin, Heidelberg
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Erscheinungsdatum:01.01.1960
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Format / Umfang:2 pages
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ISBN:
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz/Kapitel (Buch)
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Format:Elektronische Ressource
-
Sprache:Englisch
-
Schlagwörter:
-
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
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- 1
-
Eröffnungs-AnspracheRuska, Ernst et al. | 1960
- 2
-
Opening remarksCosslett, V. E. et al. | 1960
- 4
-
FestvortragLaue, M. et al. | 1960
- 9
-
Über die Arbeitsweise und die elektronenoptischen Eigenschaften der SpitzenkathodeSakaki, Y. / Maruse, S. et al. | 1960
- 13
-
The point cathode as an electron sourceDrechsler, M. / Cosslett, V. E. / Nixon, W. C. et al. | 1960
- 20
-
Recent progress in field emission at high current densitiesTrolan, J. K. / Dyke, W. P. et al. | 1960
- 25
-
Zur Frage der Stabilität der FeldelektronenemissionElinson, M. I. et al. | 1960
- 28
-
Production of square temperature waves in filaments of field emission microscopes operating at low temperaturesKlein, R. et al. | 1960
- 28
-
Massenspektrometrische Untersuchung chemischer Reaktionen mit Hilfe einer Feldemissions-IonenquelleBeckey, H. D. et al. | 1960
- 10
-
Diskussionsbemerkungvon Ardenne, M. et al. | 1960
- 11
-
Messungen an ElektronenstrahlerzeugernBoersch, H. / Born, G. et al. | 1960
- 39
-
Der Boersch-Effekt und ein Ansatz zu seiner theoretischen DeutungLenz, Friedrich et al. | 1960
- 13
-
Potential well modulation of electron beamsJacob, L. et al. | 1960
- 14
-
Versuche an einer GasentladungskathodeHahn, Max et al. | 1960
- 15
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Ein kombiniertes Integriergerät zur genaueren Berechnung der Felder elektronenoptischer AbbildungssystemeDer-Schwarz, G. W. et al. | 1960
- 48
-
Über eine Zusatzlinse zur Kompensation der Farbabhängigkeit der Vergrößerung im elektrostatischen ElektronenmikroskopWeitsch, W. et al. | 1960
- 51
-
The development of the lens system in the Hitachi electron microscopeMorito, Nozomu / Tadano, Bunya / Katagiri, Shinjiro et al. | 1960
- 53
-
Permanent magnet lens systems and their characteristicsKimura, Hirokazu / Kikuchi, Yoshio et al. | 1960
- 57
-
Mesure et correction de l’aberration d’ouverture des lentilles quadrupolaires magnétiquesSeptier, Albert et al. | 1960
- 61
-
Stigmatoren für ein Mehrlinsen-MikroskopStojanow, P. A. et al. | 1960
- 66
-
Ein elektrostatischer FeinstrahlkondensorHahn, Eberhard et al. | 1960
- 68
-
Elektronenoptisches System zur Herstellung feiner ElektronensondenMulvey, T. et al. | 1960
- 71
-
An electrostatic-electromagnetic alignment section for the electron microscopeHaine, M. E. / Agar, A. W. / Mulvey, T. et al. | 1960
- 74
-
Ein Präparattisch mit universeller BewegungseinrichtungRiecke, W. D. et al. | 1960
- 78
-
A protection shutter for the specimen in the electron microscopeSasaki, Nobuji / Ueda, Ryuzo / Arai, Noboru et al. | 1960
- 80
-
Gas reaction on the specimenHiziya, K. / Hashimoto, H. / Watanabe, M. / Mihama, K. et al. | 1960
- 27
-
Eine Kammer für die Untersuchung von Objekten mit GasumgebungStojanowa, I. G. et al. | 1960
- 87
-
Die Objektverschmutzung und ihre VerhütungHeide, H. G. et al. | 1960
- 90
-
Improvement of the specimen cooling device for the electron microscopeWatanabe, M. / Okazaki, I. / Honjo, G. / Mihama, K. et al. | 1960
- 93
-
Improvement of the specimen heating device for the electron microscopeOkazaki, I. / Watanabe, M. / Mihama, K. et al. | 1960
- 96
-
A high temperature stage for the Elmiskop IWhelan, M. J. et al. | 1960
- 100
-
Experimentelle Untersuchung der thermischen Einwirkung des Elektronenstrahls auf das Objekt im ElektronenmikroskopStojanowa, I. G. / Belawzewa, E. M. et al. | 1960
- 103
-
Verwendung eines Bildverstärkers zur Leuchtdichte-Steigerung des Bildes im ElektronenmikroskopNirikoff, V. G. / Kuschnier, J. M. / Butsloff, M. M. / Bordowsky, G. A. et al. | 1960
- 104
-
Hochauflösende Leuchtschirme für die ElektronenmikroskopieBroser-Warminsky, R. / Ruska, E. et al. | 1960
- 110
-
Kornlose und höchstauflösende Fixierung von Ionen- und Elektronen-BildernSpeidel, R. et al. | 1960
- 112
-
Die informationstheoretische Grenze bei der Abbildung lebender Substanz im Elektronenmikroskop und über Möglichkeiten zur Annäherung an die GrenzeArdenne, M. et al. | 1960
- 116
-
Das Verhalten photographischer Schichten bei ElektronenbestrahlungFrieser, H. / Klein, E. / Zeitler, E. et al. | 1960
- 116
-
Eine einfache Sonde zur Bestimmung von Elektronenstrahlintensitäten am Endbildschirm von ÜbermikroskopenDengel, E. / Grasenick, F. / Jakopic, E. et al. | 1960
- 125
-
Elektronenvielfachstreuung in photographischen EmulsionenLenz, Friedrich et al. | 1960
- 127
-
Punktauflösung von extrem feinkörnigen und extrem empfindlichen PhotoemulsionenD’Ans, A. M. / Bergansky, E.-G. / Tochtermann, G. et al. | 1960
- 131
-
The effect of grain of photographic emulsion on the resolution of an electron microscopeAkashi, Kazuhiko / Masuda, Tatsunosuke / Tochigi, Hiroshi / Yamanouchi, Kan / Iguchi, Emiko et al. | 1960
- 134
-
The decomposition of silver azide by electronsCamp, M. et al. | 1960
- 138
-
Extruded silver filamentsKerr, I. S. et al. | 1960
- 140
-
Cinematographic studies on the interaction of electrons with microcrystals of silver iodideHorne, R. W. / Ottewill, R. H. et al. | 1960
- 143
-
Neue elektronenmikroskopische Untersuchungen zum Mechanismus der photographischen EntwicklungKlein, E. et al. | 1960
- 146
-
Stereoscopy and resolution in electron microscopyAnderson, Th. F. et al. | 1960
- 146
-
Präparative Hilfsmittel zur quantitativen Auswertung elektronenmikroskopischer StereoaufnahmenGrothe, H. / Knobling, E. / Schimmel, G. et al. | 1960
- 149
-
Methoden und Ergebnisse von Ausmessungen elektronenmikroskopischer Stereo-Aufnahmen mit dem „Elmigraph I“Bogen, K. / Helmcke, J.-G. / Weimann, G. et al. | 1960
- 152
-
Ein einfaches Verfahren zur Auswertung elektronenmikroskopischer StereoaufnahmenPohlmann, G. et al. | 1960
- 154
-
Neue Gesichtspunkte bei der Gestaltung von Hochvakuumanlagen in der ElektronenmikroskopieHaefer, R. A. et al. | 1960
- 157
-
Objektverschmutzung durch Kohlenwasserstoffe als vakuumtechnisches ProblemMirgel, K.-H. et al. | 1960
- 160
-
Über eine einfache elektronische Hochspannungsquelle für 50 kV mit hoher KonstanzEverding, H. et al. | 1960
- 162
-
Meßgeräte zur Untersuchung der Schwankungen von Hochspannung und Linsenstrom beim Elektronenmikroskop mit elektromagnetischen LinsenEngel, A. / Everding, H. / Wolff, O. et al. | 1960
- 165
-
A new high voltage (350 kV) universal electron microscope and its applicationsKobayashi, K. / Suito, E. / Shimadzu, S. et al. | 1960
- 166
-
Ein 300-kV-Elektronenmikroskop und einige Ergebnisse seiner Anwendung für verschiedene ForschungszweckeTadano, B. / Katagiri, S. / Ichige, K. / Sakaki, Y. / Maruse, S. et al. | 1960
- 169
-
A two-stage electron microscope using a pointed filamentHibi, T. / Takahashi, S. et al. | 1960
- 171
-
Some design features of a new Philips Electron MicroscopeDorsten, A. C. / Broek, S. L. et al. | 1960
- 174
-
Ein 70-kV-Elektronenmikroskop mit kalter Kathode und elektrostatischem ObjektivGribi, M. / Thürkauf, M. / Villiger, W. / Wegmann, L. et al. | 1960
- 174
-
The new electron microscope “Tronscope TRS-50” Part I: ConstructionAkashi, Kazuhiko / Masuda, Tatsunosuke et al. | 1960
- 177
-
The new electron microscope “Tronscope TRS-50” Part II: Method of alignment and inspectionAkashi, Kazuhiko / Masuda, Tatsunosuke / Tochigi, Hiroshi et al. | 1960
- 182
-
Ein vereinfachtes 50-kV-ElektronenmikroskopStrojnik, A. et al. | 1960
- 184
-
Ein Hilfselektronenmikroskop für Kurs- und RoutinebetriebMüller, K. / Ruska, E. et al. | 1960
- 187
-
An improved operating method for the Siemens Elmiskop IMeek, G. A. et al. | 1960
- 189
-
Über eine neue Einrichtung zur FeinstrahlbeugungRiecke, W. D. et al. | 1960
- 195
-
The examination of single crystals by reflection electron microscopyHalliday, J. S. / Newman, R. C. et al. | 1960
- 197
-
Microscopie électronique à émission secondaire et microscopie électronique par réflexion: développements récentsFert, Charles / Pradal, Ferdinand / Saporte, Robert / Simon, René et al. | 1960
- 201
-
Über ein Elektronenmikroskop und ein Verfahren zur direkten Sichtbarmachung von isolierenden OberflächenBartz, G. et al. | 1960
- 207
-
Association d’un microscope à émission et d’un diffractographe à réflexionArnal, R. et al. | 1960
- 208
-
Neuere emissionsmikroskopische Erfahrungen mit Ionen-, Elektronen- und UV-ausgelösten ElektronenMöllenstedt, G. et al. | 1960
- 212
-
Ein Elektronen-Emissions-Mikroskop für metallkundliche AnwendungenMöllenstedt, G. / Düker, H. et al. | 1960
- 215
-
Microscopie à émission ionique négativeBernard, René / Goutte, Robert et al. | 1960
- 217
-
Über einige anwendungstechnische Erfahrungen mit einem Emissions-MikroskopBethge, H. / Eggert, H. / Herbold, K. et al. | 1960
- 222
-
Über einige Probleme der ReflexionsmikroskopieKuschnier, J. M. / Der-Schwarz, G. W. et al. | 1960
- 230
-
Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine Anwendung zur Messung von inneren PotentialenKeller, M. et al. | 1960
- 233
-
Elektronen-Interferenz-MikroskopieBuhl, R. et al. | 1960
- 234
-
Interférométrie électronique et microscopie électronique interférentielleFert, Charles / Faget, Jean et al. | 1960
- 239
-
The projection X-ray microscope and related microanalytical techniquesCosslett, V. E. et al. | 1960
- 249
-
X-ray microscopy using point sourcesNixon, W. C. et al. | 1960
- 254
-
Selection of spectra for X-ray microscopyBessen, I. I. et al. | 1960
- 257
-
Contrast improvement in X-ray projection microscopyPoen, Ong Sing / Poole, J. B. et al. | 1960
- 259
-
Untersuchungen über das Röntgenstrahlmikroskop vom Standpunkt der InformationsübertragungLangner, Günther et al. | 1960
- 263
-
An X-ray micro-analyzer of improved designMulvey, T. et al. | 1960
- 267
-
Microanalysis with the X-ray scanning microscopeDuncumb, P. et al. | 1960
- 269
-
Recent developments in scanning electron microscopyEverhart, T. E. / Smith, K. C. A. / Wells, O. C. / Oatley, C. W. et al. | 1960
- 273
-
Microscopie électronique par balayageBernard, René / Davoine, François et al. | 1960
- 276
-
Materialbearbeitung mit Elektronen-StrahlenSteigerwald, K. H. et al. | 1960
- 278
-
Herstellung feiner Fräsungen mit Elektronen-StrahlenSchleich, F. et al. | 1960
- 281
-
Characteristic energy losses of electronsMarton, L. / Leder, L. B. / Marton, C. / Mendlowitz, H. / Simpson, J. A. / Suddeth, J. A. / Wagner, M. D. et al. | 1960
- 288
-
Über den Einfluß der unelastisch gestreuten Elektronen auf den Flächenkontrast im ElektronenmikroskopLippert, Werner et al. | 1960
- 290
-
Messung der elastischen und unelastischen Streuverteilung mittelschneller (15–50-keV-) Elektronen mit Hilfe der GegenfeldmethodeHorstmann, M. / Meyer, G. / Raether, H. et al. | 1960
- 293
-
A simple method of estimating the screening radius of an atomBhattacharya, D. L. et al. | 1960
- 295
-
Die Streumatrix für die Elektronenbeugung an durchstrahlten Kristallplatten und ihre Verwendung für die Berechnung elektronenoptischer KristallgitterbilderNiehrs, H. et al. | 1960
- 297
-
The variations in background intensity of electron diffraction patternsHalliday, J. S. et al. | 1960
- 300
-
The contrast of transmission electron diffraction patternsHalliday, J. S. et al. | 1960
- 302
-
Low voltage electron microscopyNixon, W. C. et al. | 1960
- 306
-
Bildentstehung und BildkontrastLenz, Friedrich et al. | 1960
- 308
-
Electron phase microscopeKanaya, Koichi / Kawakatsu, Hisazo et al. | 1960
- 316
-
Kritisches zu gewohnten Auffassungen über KontrastentstehungNiehrs, H. et al. | 1960
- 320
-
Observations on crystal lattices and imperfections by transmission electron microscopy through thin filmsMenter, J. W. et al. | 1960
- 100
-
Theoretical interpretation on the electron microscopic image of crystal lattice and its moiré patternHashimoto, H. / Naiki, T. / Mannami, M. et al. | 1960
- 101
-
The direct observation of the long period of the ordered alloy CuAu (II) by means of electron microscopeOgawa, Shiro / Watanabe, Denjiro / Watanabe, Hiroshi / Komoda, Tsutomu et al. | 1960
- 102
-
Observations on order-disorder and domain structures in thin films of copper-gold alloysGlossop, A. B. / Pashley, D. W. et al. | 1960
- 103
-
Electron microscopic observation of periodic structureKamiya, Yoshihiro / Nonoyama, Minoru / Tochigi, Hiroshi / Uyeda, Ryozi et al. | 1960
- 104
-
Electron microscopy of ribonuclease crystalsDawson, I. M. / Watson, D. H. et al. | 1960
- 105
-
Observations at high resolution on several indanthrene dyesWyckoff, R. W. G. / Labaw, L. W. et al. | 1960
- 106
-
Zum Einfluß von Bildfehlern und Beleuchtung auf die Abbildung von KristallstrukturenSchiske, P. et al. | 1960
- 350
-
Modellversuche zur Beugung und Abbildung gestörter GitterBoersch, H. / Klatt, K. et al. | 1960
- 108
-
Moiré patterns from metal latticesBassett, G. A. / Menter, J. W. / Pashley, D. W. et al. | 1960
- 109
-
Electron microscopic and diffraction studies of superimposed lamellar crystalsSuito, Eiji / Uyeda, Natsu et al. | 1960
- 110
-
Mehrfachbeugung und Moiré bei orientiert verwachsenen KristalldoppelschichtenStabenow, Joachim et al. | 1960
- 111
-
Moiré patterns and other crystallinity effects in the electron microscopy of polyethylene single crystalsFrank, F. C. / Keller, A. / Agar, A. W. et al. | 1960
- 112
-
The structural significance of moiré patternsDowell, W. C. T. / Farrant, J. L. / Rees, A. L. G. et al. | 1960
- 113
-
Zur Theorie der Moiré-MusterRang, Otto et al. | 1960
- 114
-
Stable substrates on annular discsDowell, W. C. T. et al. | 1960
- 115
-
The use of charged polymers for supporting films for the electron microscopy of macromoleculesBirbeck, M. S. C. et al. | 1960
- 379
-
The mechanical strength of thin films under electron bombardmentSugata, E. / Yokoya, H. / Kitakaze, K. et al. | 1960
- 117
-
Einfluß verschiedener Präparationsmethoden auf die Korngrößenverteilung von feindispersen SubstanzenKirste, E. / Mahl, H. et al. | 1960
- 118
-
La technique des coupes ultra-minces appliquée à l’étude des charbonsPregermain, S. et al. | 1960
- 119
-
Nouvelle méthode de préparation de films métalliques minces et application en métallurgieTakahashi, N. / Ashinuma, K. et al. | 1960
- 120
-
Une méthode rapide d’amincissement des échantillons métalliques et quelques unes de ses applications en métallographieSaulnier, Adrien / Mirand, Paul et al. | 1960
- 121
-
Oxydation dünner Metall- und Fluoridschichten im ElektronenmikroskopZehender, Ernst et al. | 1960
- 122
-
Cathodic etching in a magnetic fieldCalbick, C. J. et al. | 1960
- 123
-
Le décapage ionique appliqué à la diffraction électronique par réflexionSteinemann, S. / Trillat, J. J. et al. | 1960
- 124
-
Ionenätzung im ElektronendiffraktographenGribi, M. / Wegmann, L. et al. | 1960
- 125
-
Über Grenzflächenreaktionen zur Entwicklung von üblicherweise im Abdruck nicht erkennbaren OberflächenstrukturenBethge, H. et al. | 1960
- 414
-
Influence du bombardement ionique sur certaines structures superficiellesMihama, K. et al. | 1960
- 127
-
Einfluß des Ätzvorganges auf die Gefügewiedergabe im elektronenmikroskopischen BildSchrader, Angelica et al. | 1960
- 420
-
Réactif d’attaque amélioré des aciers destiné à la microscopie électroniqueEguchi, I. et al. | 1960
- 129
-
Energy of particles ejected during evaporation of carbonCalbick, C. J. et al. | 1960
- 426
-
Methods for the preparation and electron microscopical observation of dispersed colloidal heavy metal particlesDorsten, A. C. et al. | 1960
- 427
-
Methodik der elektronenmikroskopischen Untersuchung temperaturempfindlicher PräparateGessner, S. / Grasenick, F. / Horn, H. / Reiter, O. et al. | 1960
- 427
-
Beschreibung einer Apparatur zur Herstellung dünner Schichten aus Gasentladungen bei Drucken von kleiner als 10-3 Torr und tiefen TemperaturenGrasenick, F. / Reiter, O. et al. | 1960
- 133
-
A new approach to the problem of high resolution shadow-casting: The simultaneous evaporation of platinum and carbonBradley, D. E. et al. | 1960
- 134
-
Ergebnisse bei der Untersuchung von Abdrucken geringer EigenstrukturBauer, Ernst / Fritz, Bernd / Kinder, Ernst et al. | 1960
- 135
-
The rigidity of carbon replicas in relation to surface topographyNankivell, J. F. et al. | 1960
- 136
-
Eine Technik der Replica-Herstellung von Kohlenstoffstählen durch unmittelbare Verdampfung von Kohle und ihre Eignung für das Studium der Martensit-ZersetzungCamuñas, A. et al. | 1960
- 137
-
On a high resolution pre-shadowed carbon replica method and its direct stripping techniqueFukami, Akira et al. | 1960
- 138
-
The replication of radioactive metal surfacesCoiley, J. A. / Clark, P. A. E. / Sharpe, B. F. et al. | 1960
- 139
-
A two-step replica method in electron microscope investigation of the structure of porous aluminium oxide pelletsMoscou, L. et al. | 1960
- 140
-
Abbildung von Verteilungszuständen in kompakt-dispersen KörpernKohlschütter, H.-W. / Kämpf, G. et al. | 1960
- 141
-
Über die Genauigkeit von Gitterkonstantenmessungen mit ElektroneninterferenzenMeyerhoff, K. et al. | 1960
- 142
-
Studies in crystal structure using electron diffraction of single crystalsGard, J. A. / Taylor, H. F. W. / Staples, L. W. et al. | 1960
- 143
-
Electron microscopic and diffraction studies of the aged AgI solChatterjee, S. N. et al. | 1960
- 144
-
The diamond to graphite transformationSeal, M. et al. | 1960
- 145
-
Orientation de microcristaux déposés sur micaZouckermann, R. et al. | 1960
- 146
-
Untersuchungen an sehr dünnem BlattgoldBrüche, E. / Schulze, K.-J. et al. | 1960
- 147
-
An electron microscopical study: The structure and morphology of ultramicroscopic dendrites of alpha ironWatson, John H. L. et al. | 1960
- 148
-
An electron microscopical study: Some effects of magnetic field upon single, anisotropic alpha iron crystals and the relation between their fine structure and magnetic propertiesWatson, John H. L. / Freeman, Michael W. et al. | 1960
- 149
-
The role of electron microscopy in the development of a new science “Crystallurgy”Freeman, Michael W. / Watson, John H. L. et al. | 1960
- 476
-
Übermikroskopische Strukturuntersuchung von zwei Legierungen für permanente MagneteJong, J. J. / Smeets, J. M. G. / Haanstra, H. B. et al. | 1960
- 151
-
Cinematographic study of the growth process of oxide crystals in the electron microscopeHashimoto, H. / Tanaka, K. / Kobayashi, K. / Shimadzu, S. / Naiki, T. / Mannami, M. et al. | 1960
- 152
-
Electron microscopic and diffraction study on the progress of reduction of tungsten trioxideSasaki, Nobuji / Ueda, Ryuzo et al. | 1960
- 153
-
A study of an oxide-coated cathode with the electron microscopeSugata, E. / Nakamura, S. et al. | 1960
- 154
-
Electron microscopic observation of alkali-halide crystals at low temperatureHibi, T. / Yada, K. et al. | 1960
- 155
-
Microstructure in ammonium dihydrogen phosphate crystals induced by clays during growthComer, J. J. et al. | 1960
- 156
-
Elektronenmikroskopische Untersuchung der Spaltflächen von Indiumantimonid-EinkristallenFeltynowski, Antoni / Górski, Ludwik et al. | 1960
- 157
-
Electron optical investigation and electron microscopy of the domain structure of ferroelectric single crystalsSpivak, G. V. / Igras, E. / Zholudyev, I. S. et al. | 1960
- 158
-
Wachstum von Alkalihalogeniden bei BekeimungWilkens, W. et al. | 1960
- 508
-
Nouvelle méthode d’étude par microscopie électronique de la structure superficielle des faces de clivages d’halogénures alcalinsSella, C. / Conjeaud, P. / Trillat, J. J. et al. | 1960
- 160
-
Nucleation of evaporated metal layers on single crystal substratesBassett, G. A. et al. | 1960
- 161
-
Elektronenoptische Untersuchung zur Kristallisation von dünnen Aufdampfschichten aus halbleitenden VerbindungenReimer, Ludwig et al. | 1960
- 162
-
The structure of evaporated carbon filmsCosslett, Anna / Cosslett, V. E. et al. | 1960
- 520
-
Untersuchungen über den Ursprung von spontanen Bedeckungen auf SilberaufdampfschichtenHanszen, Karl-Joseph et al. | 1960
- 522
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Oberflächenabdrücke von elektrolytisch niedergeschlagenen Kupfer- und Silberschichten mit eingebauten organischen FremdstoffenAust, Manfred / Reimer, Ludwig et al. | 1960
- 525
-
Elektronenoptische Untersuchungen an dünnen, elektrolytisch niedergeschlagenen NickelschichtenFuchs, E. / Politycki, A. / Pfisterer, H. et al. | 1960
- 527
-
A theory of Bragg diffraction phase contrast due to defects in crystals observed by transmission electron microscopyHirsch, P. B. / Howie, A. / Whelan, M. J. et al. | 1960
- 536
-
Comparison of dislocation arrangements and movements in a number of metalsHirsch, P. B. / Partridge, P. G. / Tomlinson, H. et al. | 1960
- 539
-
Dislocation interactions in stainless steelWhelan, M. J. et al. | 1960
- 544
-
Recrystallization of cold rolled nickelBollmann, W. et al. | 1960
- 548
-
Dislocation loops in quenched aluminium and goldSilcox, J. et al. | 1960
- 552
-
A transmission microscope study of uraniumSilcox, J. et al. | 1960
- 556
-
A transmission electron microscope study of thin foils of copperVotava, E. / Fourdeux, A. et al. | 1960
- 559
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Experimental techniques for the plastic deformation of metal foils in the electron microscopeWilsdorf, H. G. F. / Cinquina, L. / Varker, C. J. et al. | 1960
- 175
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Observations on thin metal films during controlled deformation in the electron microscopePashley, D. W. et al. | 1960
- 562
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Versetzungsanordnungen in α-MessingMeakin, J. D. / Sun, R. / Wilsdorf, H. et al. | 1960
- 565
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Deformation of oriented thin films on solid substratesBrame, D. R. / Evans, T. et al. | 1960
- 567
-
Chauffage et déformation des échantillons minces métalliques à l’intérieur d’un microscope électroniqueBerghezan, A. / Fourdeux, A. et al. | 1960
- 571
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The direct observation of dislocations in bismuth tellurideGeach, G. A. / Phillips, R. et al. | 1960
- 574
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Some problems in the study of precipitation and phase transformation in metalsNutting, J. et al. | 1960
- 180
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Precipitation of carbides in unalloyed and low alloy steelsFisher, R. M. et al. | 1960
- 588
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Étude d’alliages titane- aluminium par micrographie et microdiffraction électroniques sur coupes mincesSaulnier, A. / Croutzeilles, M. et al. | 1960
- 603
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Eletron transmission studies of thin foils of aged aluminium alloysThomas, G. et al. | 1960
- 607
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An electron microscopic study of the age hardening of duraluminGrewal, K. S. / Bhattacharya, D. L. et al. | 1960
- 610
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Transformation de phases des alliages Al-Cu due au chauffage à l’intérieur du microscope électroniqueTakahashi, N. / Ashinuma, K. et al. | 1960
- 616
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Transformation des réseaux métalliques sous l’influence des éléments d’insertion: Transformation du réseau du nickel sous l’influence de l’azoteTerao, Nobuzo / Berghezan, Aurel et al. | 1960
- 618
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Die Bildung des Eisen-Stickstoff-Martensits in dünnen SchichtenPitsch, Wolfgang et al. | 1960
- 621
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Some special aspects of the bainitic structureHabraken, L. et al. | 1960
- 188
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The mechanism of bainite formation in low alloy steels containing up to 0.4 % carbonPickering, F. B. et al. | 1960
- 638
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Utilisation du brome comme agent de dissolution du métal, dans la préparation de répliques microfractographiques et de répliques avec extractionHenry, G. / Plateau, J. et al. | 1960
- 190
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An electron microscope study of changes in a 2¼% Cr, 1% Mo super-heater tube steel during tempering and creepHale, K. F. et al. | 1960
- 658
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Studies on the occurrence, morphology and identity of nitride precipitates in iron and steelBooker, G. R. / Norbury, J. et al. | 1960
- 664
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Die orientierte Zementitausscheidung im FerritPitsch, Wolfgang / Schrader, Angelica et al. | 1960
- 666
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Carbidphasen-Umwandlungen in Schnelldrehstahl beim Anlassen zwischen 100° und 700° CJežek, J. et al. | 1960
- 668
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The precipitation of Cr7C3 in ferritic steels of varying chromium contentPickering, F. B. et al. | 1960
- 670
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Application de la microscopie électronique à l’étude de la précipitation dans les aciers inoxydables par extraction sur réplique de carboneFourdeux, Angéline / Hatwell, Henri et al. | 1960
- 196
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Application of the selected area diffraction from carbon extraction replicas for the study of carbide reactions and the inclusions in steelAkutagawa, Takeshi / Tanino, Mitsusu / Uchiyama, Iku / Katagiri, Shinjiro et al. | 1960
- 677
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Quelques aspects du développement de la métallographie électroniqueHabraken, L. / Greday, T. / Cuvelier, P. et al. | 1960
- 686
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Studies of fibrous structuresSikorski, J. et al. | 1960
- 707
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Studies of the reactivity of keratin with heavy metalsSikorski, J. / Simpson, W. S. / Woods, H. J. et al. | 1960
- 710
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L’examen des fibres textiles au microscope éléctroniqueKassenbeck, P. et al. | 1960
- 712
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Cross-sectional study of chemically treated cotton fibersRollins, Mary L. / Moore, Anna T. / Tripp, Verne W. et al. | 1960
- 715
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Microfibrillar structure in regenerated celluloseDlugosz, J. / Michie, R. I. C. et al. | 1960
- 203
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Verbesserte Objektpräparationen für die elektronenmikroskopische Untersuchung von CellulosefasernJayme, G. / Hunger, G. et al. | 1960
- 722
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Relative mass thicknesses in wood cells of pine (with remarks on impregnation properties)Asunmaa, S. et al. | 1960
- 724
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Statistische Auswertungen an Cellulosefibrillen in der primären ZellwandGünther, Ingeborg et al. | 1960
- 728
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Super micellar structures of high polymersKobayashi, K. / Nishijima, Y. / Goto, S. / Kurokawa, M. et al. | 1960
- 728
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Über die Hydratation von Zement und den Einfluß von FluatenGrothe, H. / Schimmel, G. et al. | 1960
- 730
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Elektronenmikroskopische Untersuchung von natürlichen, hydraulischen BindstoffenÁrkosi, Klara et al. | 1960
- 733
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Bestimmung der mittleren Porengröße feinporiger Stoffe im Elektronenmikroskop mit Hilfe definiert eingestellter FresnelsäumeKämpf, G. et al. | 1960
- 736
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The structure of colloidal barium sulphateDawson, I. M. / Miss McGaffney, A. I. et al. | 1960
- 739
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Elektronenmikroskopische Untersuchung von Ni-Kieselsäure KatalysatorenCorbet, H. C. et al. | 1960
- 741
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An investigation of a micellar solution by electron microscopyGoodman, J. F. et al. | 1960
- 743
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Polydispersität kolloider SystemeHosemann, R. / Motzkus, F. et al. | 1960
- 746
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A direct electron microscope study of thin rubber filmsSeal, M. et al. | 1960
- 750
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Einige Besonderheiten der Elektronenbeugungs-Untersuchungen an HochpolymerverbindungenStojanowa, I. G. / Seides, A. L. et al. | 1960
- 754
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Elektronenoptische Untersuchungen von Schwebestaub in GrubengebäudenSchlipköter, H.-W. / Steiger, H. / Esser, H.-F. / Beck, E. G. et al. | 1960
- 758
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The electron microscope study of airborne coal and rock dustCartwright, J. / Nagelschmidt, G. et al. | 1960
- 762
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Étude par diffraction et microscopie électroniques de la fumée du tabacTrillat, J. J. / Tertian, L. / Mihama, K. / Cuzin, J. et al. | 1960
- 764
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Electron microscopy of bidi and cigarette smokeHathiram, K. D. / Korgaonkar, K. S. et al. | 1960
- 769
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Die Anwendung mikrochemischer Nachweisverfahren in der ElektronenmikroskopieWiesenberger, E. et al. | 1960
- 779
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Ein Beitrag zum Nachweis kleinster SubstanzmengenBlaha, J. / Glawitsch / Grasenick, F. et al. | 1960
- 780
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Über die Feldelektronenemission des Palladiums im Vergleich zu Nickel und PlatinCaspary, E. K. / Krautz, E. et al. | 1960
- 785
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Feldemission von VanadiumPankow, G. et al. | 1960
- 789
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Untersuchungen an dem Chrom-Nickelstahl 18/8 im FeldelektronenmikroskopStangler, Ferdinand et al. | 1960
- 792
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The investigation of phase transformation α ⇄ β ZrKomar, A. / Schrednik, V. et al. | 1960
- 796
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Kristalloberflächen unter dem Einfluß elektrischer FelderDrechsler, M. / Vanselow, R. et al. | 1960
- 796
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Observation of metals at high temperatures by the Field Emission MicroscopeHibi, T. / Ishikawa, K. et al. | 1960
- 801
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The topography of the hydrogen chemisorption on metalsSachtler, W. M. H. / Dorgelo, G. J. H. et al. | 1960
- 807
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Application of electron emission microscopy in chemisorption studiesHill, R. J. / Jacobs, P. W. M. / Lodge, G. W. et al. | 1960
- 811
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Zur Messung der Dicke von Barium-Aufdampfschichten im FeldelektronenmikroskopHess, E. / Drechsler, M. et al. | 1960
- 817
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The formation of carbides on the surface of Mo and W single crystalsKomar, A. P. / Talanin, G. N. et al. | 1960
- 820
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Beobachtungen der atomaren Struktur von Metalloberflächen im FeldionenmikroskopMüller, Erwin W. et al. | 1960
- 835
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Zur Analyse von Feldionenmikroskop-Aufnahmen mit atomarer AuflösungDrechsler, M. / Wolf, P. et al. | 1960