XAFS Spectroscopy Study of Microstructure and Electronic Structure of Heterosystems Containing Si/GeMn Quantum Dots (Englisch)
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In:
Journal of Experimental and Theoretical Physics
;
128
, 2
;
303-311
;
2019
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:XAFS Spectroscopy Study of Microstructure and Electronic Structure of Heterosystems Containing Si/GeMn Quantum Dots
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Beteiligte:Erenburg, S. B. ( Autor:in ) / Trubina, S. V. ( Autor:in ) / Zvereva, V. A. ( Autor:in ) / Zinoviev, V. A. ( Autor:in ) / Katsyuba, A. V. ( Autor:in ) / Dvurechenskii, A. V. ( Autor:in ) / Kvashnina, K. ( Autor:in ) / Voelskow, M. ( Autor:in )
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Erschienen in:Journal of Experimental and Theoretical Physics ; 128, 2 ; 303-311
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Verlag:
- Neue Suche nach: Pleiades Publishing
-
Erscheinungsort:Moscow
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Erscheinungsdatum:01.02.2019
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Format / Umfang:9 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 128, Ausgabe 2
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